造價通
更新時間:2024.12.22
紅外探測器暗電流測試方法研究

格式:pdf

大?。?span class="single-tag-height">156KB

頁數(shù): 4頁

在紅外集成光電系統(tǒng)中,暗電流及其噪聲作為衡量探測器性能的關鍵指標,在工程上對其進行實際測試具有重要的意義。從工程角度提出了紅外探測器暗電流的測試及分析方法。其主要思想是在紅外成像系統(tǒng)中,通過改變黑體溫度及積分時間,得到不同的擬和曲線,進而通過本文提出的方法計算出探測器的暗電流。

光電倍增管暗電流和單光電子響應

格式:pdf

大?。?span class="single-tag-height">187KB

頁數(shù): 3頁

PMT參數(shù)優(yōu)劣對閃爍體探測器性能至關重要。依據(jù)PMT的工作原理,建立PMT單光電子響應(SER)函數(shù),搭建實驗裝置,完成PMT響應實驗測試,在常溫環(huán)境下測試了濱松CR194 PMT暗電流和單光電子信號。數(shù)字信號利用Roofit、Origin軟件進行處理,得到暗電流和單光電子幅度值隨高壓變化的曲線圖。分析圖表,可得結論:在600~1 200 V之間,CR194 PMT暗電流響應幅度值或SER幅度值隨工作電壓的增加而增加。電壓為1 000 V時,PMT的穩(wěn)定性最好,1 000 V為實驗的最佳工作電壓。

熱門知識

暗電流

精華知識

暗電流

最新知識

暗電流
點擊加載更多>>

相關問答

暗電流
點擊加載更多>>
專題概述
暗電流相關專題

分類檢索: