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在紅外集成光電系統(tǒng)中,暗電流及其噪聲作為衡量探測器性能的關鍵指標,在工程上對其進行實際測試具有重要的意義。從工程角度提出了紅外探測器暗電流的測試及分析方法。其主要思想是在紅外成像系統(tǒng)中,通過改變黑體溫度及積分時間,得到不同的擬和曲線,進而通過本文提出的方法計算出探測器的暗電流。
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PMT參數(shù)優(yōu)劣對閃爍體探測器性能至關重要。依據(jù)PMT的工作原理,建立PMT單光電子響應(SER)函數(shù),搭建實驗裝置,完成PMT響應實驗測試,在常溫環(huán)境下測試了濱松CR194 PMT暗電流和單光電子信號。數(shù)字信號利用Roofit、Origin軟件進行處理,得到暗電流和單光電子幅度值隨高壓變化的曲線圖。分析圖表,可得結論:在600~1 200 V之間,CR194 PMT暗電流響應幅度值或SER幅度值隨工作電壓的增加而增加。電壓為1 000 V時,PMT的穩(wěn)定性最好,1 000 V為實驗的最佳工作電壓。