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更新時(shí)間：2025.01.04
Zn~(2+)脅迫對(duì)白皮松針葉電阻抗圖譜參數(shù)的影響

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研究了Zn2+脅迫下白皮松(Pinus bungeana)針葉細(xì)胞膜的電特性,對(duì)盆栽6a生白皮松苗,應(yīng)用電阻抗圖譜法測(cè)定了不同濃度Zn2+(0,200,500,1000,2000,3000 mg.L-1)脅迫下白皮松針葉的胞外電阻率、胞內(nèi)電阻率、弛豫時(shí)間、弛豫時(shí)間分布系數(shù)、高頻電阻率和低頻電阻率。結(jié)果表明:在Zn2+脅迫下,隨處理時(shí)間的延長(zhǎng),胞外電阻率和低頻電阻率總是增加,胞內(nèi)電阻率和高頻電阻率則先減小后增加,弛豫時(shí)間先增加后減小,弛豫時(shí)間分布系數(shù)無(wú)明顯變化趨勢(shì)。隨Zn2+脅迫濃度的增加,處理7d后各參數(shù)均無(wú)明顯變化;處理14d后,各參數(shù)均隨濃度的增加逐漸增加,相比對(duì)照,胞外電阻率和低頻電阻率都分別增加了115%~235%,胞內(nèi)電阻率分別增加了34%~95%;處理21d后,除弛豫時(shí)間分布系數(shù)外,其余各參數(shù)在3000mg.L-1Zn2+處理相比對(duì)照差異顯著,胞外電阻率和低頻電阻率增加129%,胞內(nèi)電阻率增加232%,弛豫時(shí)間減少74%,高頻電阻率增加216%;處理28d后,胞外電阻率、胞內(nèi)電阻率、高頻電阻率和低頻電阻率均在Zn2+濃度200,2000,3000 mg.L-1時(shí)與對(duì)照相比有顯著差異。可見(jiàn),Zn2+脅迫處理14d時(shí),對(duì)白皮松針葉均有明顯傷害,可能是對(duì)Zn2+脅迫最敏感時(shí)期;白皮松針葉不能忍耐2000 mg.L-1以上Zn2+濃度脅迫。

長(zhǎng)安街道路綠地內(nèi)白皮松衰弱原因分析及復(fù)壯措施

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本文對(duì)長(zhǎng)安街沿線(南禮士路至建國(guó)門(mén)橋)白皮松的外觀生長(zhǎng)勢(shì)、根系分布情況、立地生長(zhǎng)條件和養(yǎng)護(hù)管理等進(jìn)行了調(diào)查,分析認(rèn)為衰弱主要是由于多種因素共同作用造成白皮松的根系分布發(fā)生改變,根系衰退所致。經(jīng)實(shí)踐研究,本文提出科學(xué)控制土壤的水分、合理植物配置、增強(qiáng)土壤的透氣性等復(fù)壯措施來(lái)改善白皮松衰弱現(xiàn)狀。

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