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本文將詳細(xì)介紹丙綸面料在建設(shè)工程領(lǐng)域中的優(yōu)缺點(diǎn)。通過對丙綸面料的特性、應(yīng)用范圍以及與其他材料的比較,幫助讀者全面了解丙綸面料在建設(shè)工程中的優(yōu)勢和不足。
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提出一種新的處理方法-XPS標(biāo)準(zhǔn)曲線法來測量硅片上超薄氧化硅層(SiO2/Si)的厚度。該方法利用一系列氧化硅厚度(d)準(zhǔn)確已知的SiO2/Si標(biāo)準(zhǔn)樣品,分別記錄其氧化硅和元素硅的Si(2p)譜線,并得到峰高比(R),然后將厚度(d)對峰高比(R)作圖得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。在相同的實驗條件下,測得未知樣品氧化硅和元素硅的Si(2p)譜線并計算其峰高比,通過插入法在標(biāo)準(zhǔn)曲線上得到相應(yīng)的氧化硅層厚度。SiO2/Si標(biāo)準(zhǔn)樣品由設(shè)備一流和經(jīng)驗豐富的權(quán)威實驗室提供,其氧化硅厚度采用多種方法進(jìn)行測量比對。實驗表明:基于氧化硅厚度準(zhǔn)確知道的標(biāo)準(zhǔn)樣品制作的XPS標(biāo)準(zhǔn)曲線,用于硅片上超薄氧化硅層厚度測量時具有快速、簡便和比較準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn),有較好的實用價值。
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