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更新時間：2025.01.04
LED光源與光源控制器

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平行光 MSU/MFU Series 用于檢測鏡面工件表面的劃痕、凹痕和污垢。 平行光是為檢測反光表面如 CD 和晶片上的細(xì)小裂紋、凹痕和污點而設(shè)計。 平行光光學(xué)單元成像實例 檢測鏡頭表面裂痕 鏡頭表面裂痕和缺口成 像。 使用光源： MSU-10 檢測引線框上的激光刻字 清晰的拍攝精密的激光刻 字。 使用光源： MSU-10 檢測 CSP 上的彎曲和凹陷 彎曲和凹陷部分清晰地呈 現(xiàn)為黑色陰暗區(qū)域。 使用光源： MSU-10 檢測晶片上的激光刻字 以高清晰度和高對比度呈 現(xiàn)激光刻字。 使用光源： MSU-10 產(chǎn)品選型表 系列 型號 顏色 電源 選項 MSU MSU-10 紅 12V/0.7W - MSU-10-SW/GR/BL 白 /綠/藍(lán) 12V/0.7W - MSU-30 紅 12V/0.7W MSU-30-SW/GR/BL 白 /綠/藍(lán) 12V/0.7W - MSU

基于FP激光器設(shè)計WDM-PON光源 低成本ONU光源理論淺析

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在設(shè)計WDM-PON系統(tǒng)時,ONU端光源是其關(guān)鍵技術(shù)之一,傳統(tǒng)的ONU光源價格比較昂貴而且較易受環(huán)境以及溫度的影響,本文提出了一種新型WDM-PON的ONU光源和一個采用了該光源的WDM-PON系統(tǒng)結(jié)構(gòu),并對光源的性能進(jìn)行了研究。這種光源是通過向FP激光二極管注入窄帶ASE來實現(xiàn)的,并且該二極管無需冷卻器和隔離器。

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