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更新時(shí)間:2024.12.28
光纖熔接技術(shù)

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光纖熔接技術(shù)

光纖熔接技術(shù)(圖)

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1 / 3 光纖傳輸具有傳輸頻帶寬、通信容量大、損耗低、不受電磁干擾、光纜直 徑小、重量輕、原材料來(lái)源豐富等優(yōu)點(diǎn),因而正成為新的傳輸媒介。光在光纖 中傳輸時(shí)會(huì)產(chǎn)生損耗,這種損耗主要是由光纖自身的傳輸損耗和光纖接頭處的 熔接損耗組成。光纜一經(jīng)定購(gòu),其光纖自身的傳輸損耗也基本確定,而光纖接 頭處的熔接損耗則與光纖的本身及現(xiàn)場(chǎng)施工有關(guān)。努力降低光纖接頭處的熔接 損耗,則可增大光纖中繼放大傳輸距離和提高光纖鏈路的衰減裕量。 一、影響光纖熔接損耗的主要因素 影響光纖熔接損耗的因素較多,大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩 類。 1.光纖本征因素是指光纖自身因素,主要有四點(diǎn)。 (1)光纖模場(chǎng)直徑不一致; (2)兩根光纖芯徑失配; (3)纖芯截面不圓; (4)纖芯與包層同心度不佳。 模場(chǎng)直徑: (9~10μm)±10%,即容限約 ±1μm; 包層直徑: 125±3μm; 模場(chǎng)同心度誤差 ≤6%,包層不圓

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