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更新時(shí)間：2024.12.28
集成電路測(cè)試

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第一章 集成電路的測(cè)試 1.集成電路測(cè)試的定義 集成電路測(cè)試是對(duì)集成電路或模塊進(jìn)行檢測(cè)， 通過(guò)測(cè)量對(duì)于集成電路的輸出回應(yīng)和預(yù)期 輸出比較， 以確定或評(píng)估集成電路元器件功能和性能的過(guò)程， 是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、 監(jiān)控生產(chǎn)、 保證 質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重要手段。 .2.集成電路測(cè)試的基本原理 輸入 X 輸出回應(yīng) Y 被測(cè)電路 DUT（Device Under Test）可作為一個(gè)已知功能的實(shí)體，測(cè)試依據(jù)原始輸入 x 和網(wǎng)絡(luò)功能集 F（x），確定原始輸出回應(yīng) y，并分析 y是否表達(dá)了電路網(wǎng)絡(luò)的實(shí)際輸出。因 此，測(cè)試的基本任務(wù)是生成測(cè)試輸入， 而測(cè)試系統(tǒng)的基本任務(wù)則是將測(cè)試輸人應(yīng)用于被測(cè)器 件，并分析其輸出的正確性。 測(cè)試過(guò)程中， 測(cè)試系統(tǒng)首先生成輸入定時(shí)波形信號(hào)施加到被測(cè) 器件的原始輸入管腳， 第二步是從被測(cè)器件的原始輸出管腳采樣輸出回應(yīng)， 最后經(jīng)過(guò)分析處 理得到測(cè)試結(jié)果。 3.集成電路故障與測(cè)

基與74系列芯片的集成電路測(cè)試儀的設(shè)計(jì)

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設(shè)計(jì)采用單片機(jī)AT89S52為核心元件來(lái)實(shí)現(xiàn),以AT89S52為核心的數(shù)字電路自動(dòng)測(cè)試儀,可以對(duì)常見(jiàn)的74系列數(shù)字集成電路進(jìn)行邏輯功能測(cè)試、自動(dòng)確定其型號(hào)和好壞,且用LCD顯示其邏輯符號(hào)。具有體積小、重量輕、成本低、人機(jī)界面友好、操作方便和可靠性高等優(yōu)點(diǎn)。

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