BurnIn(老化)插座接觸電阻的在板測試
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技術(shù)背景Burn In板子又叫老化板子。由于芯片需要在高溫(125℃以上)下,進(jìn)行加電的老化測試,當(dāng)Burn In板子在生產(chǎn)線上使用一段時間后,就會出現(xiàn)一些問題。1 Burn In Qcheck不穩(wěn)定Qcheck是做Burn In的第一個流程,用來判斷哪些插座里有芯片,
接觸電阻的分析與測量
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通過分析接觸電阻產(chǎn)生的原因及其影響因素來認(rèn)識準(zhǔn)確測量接觸電阻的意義。從理論出發(fā)介紹接觸電阻的測量方法,介紹了四線端子法的測量原理及優(yōu)勢。
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