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瓦里安公司的數(shù)字成像平板探測(cè)器產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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紅外探測(cè)器是紅外成像技術(shù)的核心,直接影響著紅外成像系統(tǒng)的性能。在分析目標(biāo)成像尺寸的基礎(chǔ)上,詳細(xì)分析光學(xué)彌散、探測(cè)器噪聲、成像陣列盲元等的形成機(jī)理,并進(jìn)行建模和仿真,最后將這些模型依次疊加。采用此方法得到的仿真圖像充分考慮了探測(cè)器各種效應(yīng)的影響,提高了仿真圖像的真實(shí)性與逼真度,可為紅外成像系統(tǒng)的研制及目標(biāo)檢測(cè)識(shí)別算法提供測(cè)試場(chǎng)景與依據(jù)。
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