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更新時間:2025.03.16
基于ARM9芯片S3C2410異常中斷程序設(shè)計

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基于ARM9芯片S3C2410異常中斷程序設(shè)計

多重中斷程序測試框架

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為了解決多重中斷的執(zhí)行不確定性帶來的測試?yán)щy問題,在多重中斷產(chǎn)生并發(fā)錯誤的特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,提出了一種多重中斷程序測試框架。該測試框架通過從外部加載一組合適的中斷信號序列控制中斷處理程序的執(zhí)行過程,迫使中斷程序經(jīng)歷待測序列,避免了構(gòu)造復(fù)雜的運(yùn)行時控制環(huán)境。實驗結(jié)果表明,相對于一般的中斷錯誤分析方法,該測試框架能夠?qū)樞虺绦蚨嘀刂袛喹h(huán)境下可能產(chǎn)生并發(fā)錯誤的時序環(huán)境和具體原因進(jìn)行較為準(zhǔn)確地分析。

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