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主要介紹了一種用于進(jìn)行脈沖中子波形和產(chǎn)額測(cè)量的閃爍探測(cè)器,它由雙套獨(dú)立探測(cè)系統(tǒng)組成,可靠性高,在沒(méi)有脈沖中子的場(chǎng)合,為了檢驗(yàn)探測(cè)器各通道是否正常工作,在電子線路部分增加了脈沖產(chǎn)生單元,通過(guò)脈沖產(chǎn)生單元的定時(shí)脈沖控制發(fā)光二極管周期性發(fā)光,這樣可以實(shí)時(shí)監(jiān)控探測(cè)器工作是否正常,并且監(jiān)控信號(hào)不影響正常的中子脈沖波形。
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該文給出了一種閃爍探測(cè)器熒光接收效率的Monte Carlo模擬方法,模擬了光子在閃爍體中的輸運(yùn)及在閃爍體表面的反射和透射現(xiàn)象,考慮到光在閃爍體表面的漫反射和漫透射,采用Phong反射模型和Hall透射模型,計(jì)算了探測(cè)器的光陰極在不同方位時(shí)對(duì)光的接收效率。理論模擬結(jié)果表明,熒光的接收效率與閃爍體的表面粗糙度有關(guān),在120°方向附近熒光的接收效率最大,與實(shí)驗(yàn)結(jié)果符合得較好。
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