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根據(jù)包裝箱結(jié)構(gòu)設(shè)計典型密封結(jié)構(gòu),在模擬使用狀態(tài)下對O形三元乙丙橡膠(EPDM)密封圈進行加速老化試驗研究,獲得在65,85和105℃下不同老化時間(5,10,15,20,25和30 d)的壓縮永久變形變化規(guī)律,在此基礎(chǔ)上,推導(dǎo)O形EPDM密封圈的失效時間與使用溫度的數(shù)學(xué)關(guān)系式,預(yù)測出O形EPDM密封圈在25℃下的使用壽命為17.8 a。同時,將預(yù)測曲線與實測曲線進行對比分析得出預(yù)測曲線與實測曲線吻合良好,相關(guān)性參數(shù)R>0.95。