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更新時間:2024.12.28
微光探測裝置自成暗室設(shè)計開發(fā)

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針對現(xiàn)有微光檢測系統(tǒng)體積大、避光效果差等不足,對微光探測裝置進行全新設(shè)計。采用反應(yīng)杯與光探測頭自成暗室,減少暗室進出機構(gòu),提高避光效果;采用斬波法扣除本底計數(shù),從而消除背景光引起的測量誤差。性能測試結(jié)果顯示:該微光探測裝置的光子本底計數(shù)小于等于200光子/s,測光上限平均值達到1.1×107光子/s,變異系數(shù)(CV)小于等于3%,達到目前現(xiàn)有的微光檢測系統(tǒng)的技術(shù)指標要求,可用于化學(xué)發(fā)光免疫分析儀等需要進行微光信號檢測的精密儀器開發(fā),對基于微光探測技術(shù)的儀器行業(yè)的發(fā)展具有重要意義。

故障電弧探測裝置宣講講義

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