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更新時間：2025.01.05
摘葉與鋪反光膜對赤霞珠葡萄結果部位葉片光合性能的影響

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[目的]研究摘葉、鋪膜以及摘葉結合鋪膜處理對赤霞珠葡萄葉片光和性能的影響。[方法]以7年生赤霞珠葡萄為試材,設摘除果穗周圍葉片、樹冠下鋪銀色反光膜、樹冠下鋪銀色反光膜+摘葉3個處理,以常規(guī)管理株為對照,分別測定4個處理的葉片光合速率(Pn)、氣孔導度(Gs)和細胞間隙CO2濃度(Ci)以及光照強度。[結果]摘葉和鋪膜處理均可提高葡萄結果部位葉片的光合速率,其中摘葉處理比對照提高28.3%,鋪膜處理比對照提高72.6%;鋪膜+摘葉處理相對于鋪膜或摘葉處理并未表現(xiàn)顯著的加和效應,摘葉和鋪膜處理對葉片氣孔導度有一定影響,以摘葉處理影響較大。不同時期各處理葉片細胞間CO2濃度存在一定差異。[結論]綜合考慮,鋪膜效果優(yōu)于摘葉處理。

云山星座苑施工測量

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一. 施工測量 1、定位方法 本工程測量定位根據(jù)業(yè)主提供的施工總平面圖，先用J2E經(jīng)緯儀控制點和軸線，再由直角關系定位出其他方向軸線。 本工程的基礎結構施工將采用“軸線平面坐標測量定位”的方法來進行軸線控制。 地上部分將采用垂準經(jīng)緯儀將閉合控制點由下引上來測定控制軸線的方案。 水準測量采用往返“精密水準”的測量方案。 2、測量儀器的選用 名 稱 型 號 等 級 產(chǎn) 地 光學經(jīng)緯儀 J2E 22級 蘇州光學儀器廠 垂準經(jīng)緯儀 DJ6-C6 22級 上海光學儀器廠 水準儀 NA28 二等 LEICA 鋼卷尺 50M 上海卷尺廠 3、平面軸線控制測量 基準平面軸線的設置以業(yè)主提供的基準點為依據(jù)，根據(jù)設計總平面圖紙軸線的布置要求，采用平面坐標測量法測量軸線，原則上應一次測量到位。 軸線坐標控制點投測完畢之后，互相

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