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更新時(shí)間:2025.03.08
Z箍縮診斷中橢圓晶體譜儀測(cè)量數(shù)據(jù)的處理

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以氖氣噴氣Z箍縮的實(shí)驗(yàn)結(jié)果為例,詳細(xì)討論了橢圓晶體譜儀測(cè)量數(shù)據(jù)的處理方法,包括使用標(biāo)定結(jié)果將膠片黑密度轉(zhuǎn)換為X光強(qiáng)度,根據(jù)已知譜線的能量和掃描點(diǎn)序號(hào)對(duì)測(cè)量能譜的能點(diǎn)進(jìn)行定標(biāo),以及使用Henke給出的考慮譜儀非均勻色散效應(yīng)、晶體積分反射率和X光濾片透過(guò)率后的公式對(duì)測(cè)量能譜的強(qiáng)度進(jìn)行修正,給出了最終的解譜結(jié)果。并使用Lorentz線型函數(shù)擬合譜線輪廓,求出了Hα,Heα和Heβ等K殼層譜線的相對(duì)強(qiáng)度,對(duì)處理后能譜強(qiáng)度的誤差進(jìn)行了簡(jiǎn)單分析。

API圓螺紋套管及接箍螺紋緊密距釋疑

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