MCM基板電路中的短路和斷路的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)算法

光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)是對(duì)板極電路改進(jìn)制造工藝和提高制造質(zhì)量重要手段,利用先進(jìn)的光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)是對(duì)高密度板極數(shù)字板生產(chǎn)質(zhì)量的有力促進(jìn),加強(qiáng)檢測(cè)環(huán)節(jié)新技術(shù)應(yīng)用也是提高生產(chǎn)效率重要組成部分。

為提高自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(aoi)的缺陷檢出率,研究了一種采用多色光源照明,利用機(jī)器視覺獲取被測(cè)高密度印刷電路板(hdi型pcb)圖像,通過圖像處理快速準(zhǔn)確地識(shí)別出各種缺陷的新型aoi。實(shí)驗(yàn)裝置由主控計(jì)算機(jī)、電氣控制系統(tǒng)、精密機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置、多色光源照明和圖像采集系統(tǒng)等組成。圖像處理及識(shí)別軟件基于opencv和visualstudio2005開發(fā),模塊化設(shè)計(jì),包括光源控制、圖像采集、圖像拼接、圖像定位、路徑規(guī)劃、缺陷檢測(cè)和缺陷統(tǒng)計(jì)等模塊。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,新型aoi系統(tǒng)可檢出加載hdi型pcb的各種缺陷,缺陷的檢出率可達(dá)99.9%,誤報(bào)率只有0.3%。

在安全玻璃缺陷光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中,采用fpga芯片以及usb接口芯片為光柵尺設(shè)計(jì)了智能接口模塊,不但實(shí)現(xiàn)了x軸及y光柵信號(hào)的細(xì)分、辨向、位移測(cè)量,還通過usb口方便快捷實(shí)現(xiàn)了與pc機(jī)的信息交換。實(shí)際應(yīng)用情況表明,該設(shè)計(jì)集成度高,使用方便,性能穩(wěn)定可靠。

mcm電源分配系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求全頻帶目標(biāo)阻抗維持在較小的范圍內(nèi),使得瞬變電流不會(huì)引發(fā)過大的電壓噪聲。本文利用平面電路分析方法建立了mcm疊層多端口等效電路,并在此基礎(chǔ)上推導(dǎo)了mcm多層導(dǎo)體板多端口阻抗頻率響應(yīng),該方法在滿足趨膚效應(yīng)假設(shè)前提下對(duì)于高速數(shù)字系統(tǒng)是行之有效的。分別利用平面電路分析方法與傳輸矩陣方法計(jì)算了多層導(dǎo)體板mcm疊層端口自阻抗與互阻抗,計(jì)算結(jié)果得到了較為一致的吻合,從而驗(yàn)證了該方法的合理性。

隨著封裝密度的增加和工作頻率的提高,mcm電路設(shè)計(jì)中的信號(hào)完整性問題已不容忽視。本文以檢測(cè)器電路為例,首先利用apd軟件實(shí)現(xiàn)電路的布局布線設(shè)計(jì),然后結(jié)合信號(hào)完整性分析,對(duì)電路布局布線結(jié)構(gòu)進(jìn)行反復(fù)調(diào)整,最后的spectraquest軟件仿真結(jié)果表明,改進(jìn)后的電路布局布線滿足信號(hào)完整性要求,同時(shí)保持較高的仿真精度。

基于結(jié)構(gòu)特征的路面裂紋病害檢測(cè)算法——提出一種新穎的圖像分解算法，用于復(fù)雜背景下的路面病害圖像，可以獲得較為清晰的裂紋病害信息。通過對(duì)含有局部線性特征的裂紋圖像進(jìn)行形態(tài)分析，建立與結(jié)構(gòu)特征相匹配的基底，利用局部ridgelet函數(shù)作為稀疏表示的基底，...

自動(dòng)光學(xué)檢查是利用圖像處理算法進(jìn)行電路板故障檢測(cè)與定位的技術(shù),它可以解決傳統(tǒng)電路板測(cè)試無(wú)法克服的缺陷。圖像相減是自動(dòng)光學(xué)檢查中最簡(jiǎn)單和最直接的辦法,但具有一定的局限性,這是由于二值化預(yù)處理造成的。本文提出一種基于圖像匹配的加載電路板故障檢測(cè)與定位算法,無(wú)需進(jìn)行二值化預(yù)處理操作,利用圖像差的絕對(duì)值、平方以及相關(guān)操作,檢測(cè)與定位元件的倒裝與漏裝故障,并具有與圖像相減類似的簡(jiǎn)易性,實(shí)驗(yàn)證實(shí)了該算法的性能。

電話線短路、斷路點(diǎn)檢測(cè)裝置是我院的一個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目,制作出一個(gè)良好的檢測(cè)裝置固然重要,更重要的是要讓學(xué)生有廣闊的思路,掌握更多的知識(shí),采用單片機(jī)制作電話線短路、斷路點(diǎn)檢測(cè)裝置是很好的實(shí)驗(yàn)課題。

i 摘要 印刷電路板(pcb)是集成各種電子元器件的信息載體，在各個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng) 用。近年來(lái)隨著印刷電路板生產(chǎn)復(fù)雜度和產(chǎn)量的提高，傳統(tǒng)pcb缺陷檢測(cè)方式因接觸受 限、高成本、低效率等因素，己經(jīng)逐漸不能滿足現(xiàn)代檢測(cè)需要，因此研究實(shí)現(xiàn)一種pcb 缺陷的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)具有很大的現(xiàn)實(shí)意義和實(shí)用價(jià)值。pcb缺陷檢測(cè)技術(shù)中，自動(dòng)光學(xué) 檢測(cè)技術(shù)越來(lái)越受到重視，其中圖像檢測(cè)法也將成為自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的主流。 本課題在分析國(guó)內(nèi)外對(duì)aoi系統(tǒng)中圖像識(shí)別軟件研究成果的基礎(chǔ)上，基于圖像處理 技術(shù)、模式識(shí)別技術(shù)和缺陷檢測(cè)技術(shù)，提出了一種運(yùn)用參考法和設(shè)計(jì)規(guī)則校驗(yàn)法處理彩 色pcb圖像進(jìn)行缺陷檢測(cè)的方案。該系統(tǒng)主要由光照、ccd攝像機(jī)、圖像采集卡及計(jì)算 機(jī)圖像處理軟件組成。其中圖像處理軟件部分作為本課題的核心,著重研究了其關(guān)鍵功 能模塊包括圖像灰度化、圖像濾波、圖像銳化、圖像識(shí)別幾個(gè)部分算法的選擇與

討論了一種在線檢測(cè)模塊化集成電路板斷路的方法.

首先介紹了性能驅(qū)動(dòng)和線網(wǎng)優(yōu)化的特點(diǎn)與方法;然后,詳細(xì)敘述了構(gòu)造障礙區(qū)與連通圖的原理,以及性能驅(qū)動(dòng)的基于形狀自動(dòng)布線的算法實(shí)現(xiàn)

通過實(shí)驗(yàn)優(yōu)化aln(氮化鋁)瓷料配方及排膠工藝,對(duì)共燒w(鎢)導(dǎo)體漿料性能及aln多層基板的高溫共燒工藝進(jìn)行了研究,并對(duì)aln多層基板的界面進(jìn)行了掃描電鏡分析。采用aln流延生瓷片與w高溫共燒的方法,成功地制備出了高熱導(dǎo)率的aln多層陶瓷基板,其熱導(dǎo)率為190w/(m·k),線膨脹系數(shù)為4.6106℃1(rt~400℃),布線層數(shù)9層,w導(dǎo)體方阻為9.8m,翹曲度為0.01mm/50mm,完全滿足高功率mcm的使用要求。

本文介紹了mcm中的高溫共燒陶瓷與低溫共燒陶瓷基板技術(shù)，以及共燒陶瓷基板技術(shù)的研究進(jìn)展情況。討論了多層共燒陶瓷基板的關(guān)鍵工藝，比較了htcc和ltcc的工藝。并對(duì)多層共燒陶瓷基板的發(fā)展進(jìn)行了展望。

由連線表自動(dòng)產(chǎn)生邏輯電路圖的自動(dòng)布局和布線算法設(shè)計(jì)

第3章斷路器的控制和信號(hào)電路

如何用萬(wàn)用表檢測(cè)照明電路短路故障和開 路故障 用萬(wàn)用表檢測(cè)照明電路短路故障 照明線路短路時(shí),線路電流很大,熔絲迅速熔斷,電路被切 斷。若熔絲選擇太粗,則會(huì)燒毀導(dǎo)線,甚至引起火災(zāi)。 照明線路短路的可能原因：接線錯(cuò)誤,相線與零線相碰接; 導(dǎo)線絕緣層損壞,在損壞處碰線或接地;用電器具內(nèi)部損壞;燈 頭內(nèi)部松動(dòng)致使金屬片相碰短路,燈頭進(jìn)水等。 我們可以采用電阻法檢查故障所在。 電阻法就是使用萬(wàn)用表的電阻擋，測(cè)量導(dǎo)線間或用電器 的電阻值，來(lái)判斷短路部位的一種方法。發(fā)生短路后，應(yīng)斷 開配電板上的刀開關(guān)（或者斷路器），并將所有用電器插頭 拔下來(lái)，全部切斷電源。用萬(wàn)用表置于r×100擋，測(cè)量相線 和零線的電阻值。如果指針趨于零(或產(chǎn)生偏轉(zhuǎn))，說明線路 有短路(或漏電)現(xiàn)象。逐段檢查干線和各分支線路，必要時(shí) 切斷某一線路，測(cè)量?jī)删€的電阻，確定故障所在位置。 檢修時(shí),應(yīng)先找

如何用萬(wàn)用表檢測(cè)照明電路短路故障和開 路故障 用萬(wàn)用表檢測(cè)照明電路短路故障 照明線路短路時(shí),線路電流很大,熔絲迅速熔斷,電路被切 斷。若熔絲選擇太粗,則會(huì)燒毀導(dǎo)線,甚至引起火災(zāi)。 照明線路短路的可能原因：接線錯(cuò)誤,相線與零線相碰接; 導(dǎo)線絕緣層損壞,在損壞處碰線或接地;用電器具內(nèi)部損壞;燈 頭內(nèi)部松動(dòng)致使金屬片相碰短路,燈頭進(jìn)水等。 我們可以采用電阻法檢查故障所在。 電阻法就是使用萬(wàn)用表的電阻擋，測(cè)量導(dǎo)線間或用電器 的電阻值，來(lái)判斷短路部位的一種方法。發(fā)生短路后，應(yīng)斷 開配電板上的刀開關(guān)（或者斷路器），并將所有用電器插頭 拔下來(lái)，全部切斷電源。用萬(wàn)用表置于r×100擋，測(cè)量相線 和零線的電阻值。如果指針趨于零(或產(chǎn)生偏轉(zhuǎn))，說明線路 有短路(或漏電)現(xiàn)象。逐段檢查干線和各分支線路，必要時(shí) 切斷某一線路，測(cè)量?jī)删€的電阻，確定故障所在位置。 檢修時(shí),應(yīng)先找

綜合分析了常見典型的交通事件檢測(cè)算法的優(yōu)缺點(diǎn),改進(jìn)了傳統(tǒng)的增量比較算法,構(gòu)建了一種新算法,該算法具有6個(gè)輸出,可以反映交通事件從產(chǎn)生到結(jié)束的全過程。借助交通仿真軟件tsis對(duì)改進(jìn)的增量比較算法進(jìn)行模擬仿真,以檢測(cè)率、誤報(bào)率、平均檢測(cè)時(shí)間作為評(píng)價(jià)指標(biāo),結(jié)果驗(yàn)證了算法的有效性。分析了交通流參數(shù)的相互關(guān)系,確定了交通事件性質(zhì)的判別標(biāo)準(zhǔn)。將模糊邏輯和改進(jìn)的增量比較算法進(jìn)行有機(jī)融合,建立了基于模糊邏輯的高速公路交通事件檢測(cè)算法。

討論了3種常用的cmos集成電路電源和地之間的esd保護(hù)電路,分別介紹了它們的電路結(jié)構(gòu)以及設(shè)計(jì)考慮,并用hspice對(duì)其中利用晶體管延時(shí)的電源和地的保護(hù)電路在esd脈沖和正常工作兩種情況下的工作進(jìn)行了模擬驗(yàn)證。結(jié)論證明:在esd脈沖下,該保護(hù)電路的導(dǎo)通時(shí)間為380ns;在正常工作時(shí),該保護(hù)電路不會(huì)導(dǎo)通,因此這種利用晶體管延時(shí)的保護(hù)電路完全可以作為cmos集成電路電源和地之間的esd保護(hù)電路。

提出一種集成于帶隙電路中的過溫保護(hù)電路。該電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,在正常溫度工作情況下不消耗額外功耗,具有低功耗的特性,同時(shí)電路不受電源電壓變化的影響。電路采用jazz0.5umbicmos工藝庫(kù)模型,對(duì)電路進(jìn)行仿真表明,電路對(duì)電源電壓變化的抑制能力強(qiáng)、對(duì)閾值溫度和遲滯溫度差的精度高。

電路設(shè)計(jì)具有培養(yǎng)和檢查學(xué)生創(chuàng)造性思維能力、綜合分析能力以及實(shí)驗(yàn)?zāi)芰Φ榷喾矫婺芰Φ奶攸c(diǎn)，是近幾年高考實(shí)驗(yàn)考查的主要考點(diǎn)，它包括測(cè)量電阻值rr、電阻事ρ、電功率p和電源電動(dòng)勢(shì)e及內(nèi)阻r.

鑒于道路照明需求的多樣性和復(fù)雜性,基于配光曲線映射原理,運(yùn)用透射光學(xué)設(shè)計(jì)手段,借鑒傳統(tǒng)路燈設(shè)計(jì)方法,針對(duì)單顆大功率白光led,根據(jù)其特有的配光特性參數(shù)設(shè)計(jì)了一種新穎的二次光學(xué)透鏡。該透鏡實(shí)現(xiàn)了將led的郎伯型配光轉(zhuǎn)換為蝙蝠翼型配光,將圓形光斑轉(zhuǎn)換為矩形光斑,同時(shí)可以達(dá)到很高的光輸出效率和近似1∶2的長(zhǎng)寬比。與同類設(shè)計(jì)相比,達(dá)到國(guó)家道路照明標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)降低了設(shè)計(jì)復(fù)雜度,可應(yīng)用于led路燈設(shè)計(jì)。