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啟拓專業(yè)手拉手會議, 矩陣切換廠商 -全球抗干擾專家 麥克風(fēng)波束成形的基本原理 麥克風(fēng) 波束成形是一個豐富而復(fù)雜的課題。所有 MEMS麥克風(fēng)都具有全向拾音響應(yīng),也 就是能夠均等地響應(yīng)來自四面八方的聲音。 多個麥克風(fēng)可以配置成陣列, 形成定向響應(yīng)或波 束場型。 經(jīng)過設(shè)計(jì), 波束成形麥克風(fēng)陣列可以對來自一個或多個特定方向的聲音更敏感。 本 應(yīng)用筆記僅討論基本概念和陣列配置, 包括寬邊求和陣列和差分端射陣列, 內(nèi)容涵蓋設(shè)計(jì)考 慮、空間和頻率響應(yīng)以及差分陣列配置的優(yōu)缺點(diǎn)。 陣列和差分端射陣列, 內(nèi)容涵蓋設(shè)計(jì)考慮、 空間和頻率響應(yīng)以及差分陣列配置的優(yōu)缺點(diǎn)。 空氣中聲波的頻率與波長的關(guān)系 方向性和極坐標(biāo)圖 方向性描述麥克風(fēng)或陣列的輸出電平隨消聲空間中聲源位置的改變而變化的模式。 ADI 公司的所有 MEMS麥克風(fēng)都是全向麥克風(fēng),即它們對來自所有方向的聲音都同樣敏感,與麥 克風(fēng)所處的方位無關(guān)。 圖2所示
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惠州培訓(xùn)網(wǎng) www.qs100.net 更多免費(fèi)資料下載請進(jìn): http://www.55top.com 好好學(xué)習(xí)社區(qū) 筆記本成品檢驗(yàn)規(guī)范 1.目的: 制定筆記本質(zhì)量檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn) ,為筆記本質(zhì)量檢驗(yàn)提供科學(xué)的依據(jù)。 2.定義: 2.1 外觀區(qū)域定義 : 2.1.1 A級面:機(jī)臺上方 (LCD 后蓋 )及打開 LCD 部份 (LCD 及 K/B 處 ) 2.1.2 B級面:機(jī)四周 (前后左右 ) 2.1.3 C級面:機(jī)下方 (即下蓋位置 ) 2.2檢驗(yàn)條件 2.2.1 燈光:正常檢驗(yàn)條件下工作場所的燈光 2.2.2 位置:產(chǎn)品放置檢驗(yàn)者正前面的 30cm距離處 ,檢驗(yàn)者于產(chǎn)品成 45度. 2.2.3 正常視力: 1.0以上 2.2.4 掃描時間 : 10秒 /次/面 2.3 限度樣品 : 文字難以描述 清楚或不易判定 合格 于不合格的外觀缺點(diǎn) ,則以提供承認(rèn) 樣品及說明圖片 ,供檢
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