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為了提高存儲(chǔ)器的邊界掃描測(cè)試軟件的通用性,提出一種基于TCL語(yǔ)言及邊界掃描技術(shù)的存儲(chǔ)器測(cè)試腳本設(shè)計(jì)方案。結(jié)合存儲(chǔ)器測(cè)試?yán)碚摷斑吔鐠呙柽壿嫶販y(cè)試技術(shù),研究基于TCL腳本語(yǔ)言的存儲(chǔ)器測(cè)試腳本設(shè)計(jì)方法,用以在進(jìn)行存儲(chǔ)器簇測(cè)試時(shí)描述存儲(chǔ)器自身的讀寫(xiě)特性及與其外部邊界掃描測(cè)試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲(chǔ)器功能測(cè)試的例子。通過(guò)測(cè)試驗(yàn)證,使用TCL腳本語(yǔ)言與高級(jí)語(yǔ)言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測(cè)試軟件的工作效率。
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為了提高存儲(chǔ)器的邊界掃描測(cè)試軟件的通用性,提出一種基于TCL語(yǔ)言及邊界掃描技術(shù)的存儲(chǔ)器測(cè)試腳本設(shè)計(jì)方案。結(jié)合存儲(chǔ)器測(cè)試?yán)碚摷斑吔鐠呙柽壿嫶販y(cè)試技術(shù),研究基于TCL腳本語(yǔ)言的存儲(chǔ)器測(cè)試腳本設(shè)計(jì)方法,用以在進(jìn)行存儲(chǔ)器簇測(cè)試時(shí)描述存儲(chǔ)器自身的讀寫(xiě)特性及與其外部邊界掃描測(cè)試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲(chǔ)器功能測(cè)試的例子。通過(guò)測(cè)試驗(yàn)證,使用TCL腳本語(yǔ)言與高級(jí)語(yǔ)言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測(cè)試軟件的工作效率。
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