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更新時間:2024.12.28
基于頻率響應法的雙CPU架構變壓器繞組變形測試儀設計

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針對日益增多的變壓器繞組變形故障,設計了一種以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103為核心的基于頻率響應法的變壓器繞組變形測試儀。詳細介紹了系統(tǒng)硬件設計方案及軟件編程思想。DSP模塊負責高速數(shù)據采集與運算。ARM模塊通過SPI總線與DSP通信,實現(xiàn)測試儀的數(shù)據管理、用戶界面以及聯(lián)機通訊。采用數(shù)字頻率合成技術DDS對待測變壓器繞組進行掃頻測量。系統(tǒng)采用軟件濾波和硬件同步交流采樣技術減小測量誤差。能夠在不對變壓器進行吊罩、拆裝的情況下進行繞組變形測試,顯示高、低壓三相繞組頻率響應曲線及相關系數(shù)R。仿真測試結果表明該裝置能夠滿足變壓器繞組變形的測試要求。

變壓器繞組變形試驗

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