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電子技術(shù)是光波段的電子技術(shù),它是繼微電子技術(shù)之后 ,近十·年來迅猛發(fā)展的新技術(shù) , 集中了固體物理、波導(dǎo)光學(xué)、材料科學(xué)和半導(dǎo)體科學(xué)技術(shù)的成就 ,成為電子技術(shù)和光子技術(shù) 的自然擴(kuò)展 ,具有強(qiáng)烈應(yīng)用背景的新興交叉學(xué)科 ,對經(jīng)濟(jì)、科技、國防等有重要的意義。而作 為倒置開關(guān)是存儲測試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件, 它的可靠性決定了存儲測試系統(tǒng)的可靠性, 直接關(guān) 系整個實(shí)驗(yàn)的成敗。 本文針對存儲測試技術(shù)對測試系統(tǒng)低功耗的要求, 研究了一種光電倒置 開關(guān),并設(shè)計(jì)一套完整的可靠性檢測系統(tǒng),有效分析了光電倒置開關(guān)的可靠性。 傳感器家族中的重要成員, 光電開關(guān)一直都以其卓越的性能而備受青睞。 隨著技術(shù)的發(fā) 展,新一代的光電開關(guān)產(chǎn)品更是具有延時、展寬、外同步、抗干擾、可靠性高、工作區(qū)域穩(wěn) 定和自診斷等智能化功能,備受更多用戶的青睞, 廣泛應(yīng)用于多個行業(yè)中。 同時,光電開關(guān) 也朝著體積更小、功能更多、檢測精度更高、響應(yīng)時間更
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