造價(jià)通
更新時(shí)間：2024.12.28
基于植物冠層分析儀單線多角度測量的葉面積指數(shù)與葉傾角分布關(guān)系

格式：pdf

大?。?span class="single-tag-height">263KB

頁數(shù)：

葉面積指數(shù)(LAI)和葉傾角分布(LAD)作為研究植被冠層結(jié)構(gòu)的重要參數(shù),二者間存在一定的定量關(guān)系。以白樺(Betula platyphylla)純林為研究對象,基于單線多角度觀測結(jié)果、Norman和Campbell線性最小二乘反演技術(shù)(NC技術(shù))以及Compbell模型三者結(jié)合,分析LAI和LAD間的定量關(guān)系。NC技術(shù)能很好地反演葉傾角分布,對實(shí)測的葉傾角分布的解釋能力達(dá)90%以上;根據(jù)NC技術(shù)計(jì)算得到的葉傾角概率密度較實(shí)際偏大,Campbell模型模擬結(jié)果則偏小,尤其在[0°,10°]區(qū)間內(nèi);2種技術(shù)存在一種互補(bǔ)關(guān)系,而2種技術(shù)計(jì)算得到的結(jié)果取平均時(shí),對實(shí)測葉傾角分布的解釋能力得到一定提高,達(dá)96%以上;此外,多角度測量中利用NC技術(shù)反演時(shí),葉傾角分布區(qū)間個數(shù)一般以取觀測太陽天頂角個數(shù)的1/2為最佳。本研究為LAI和LAD的間接測量提供了方法,同時(shí)為大范圍的LAI測量提供了驗(yàn)證手段,也為定量遙感模型參數(shù)優(yōu)化提供了理論依據(jù)。

Sunscan冠層分析儀在測量小麥葉面積指數(shù)中的應(yīng)用

格式：pdf

大小：238KB

頁數(shù)：

Sunscan 冠層分析儀可以間接測量葉面積指數(shù),具有簡單快捷,對植物無損傷的特點(diǎn),但是,受田間因素影響,Sunscan冠層分析儀測定的植物葉面積指數(shù)與傳統(tǒng)手測方法測定的葉面積指數(shù)有一定的差異,本研究在大田情況下,通過與傳統(tǒng)手測葉面積進(jìn)行比較,分析Sunscan冠層分析儀在小麥葉面積測定中的可行性。結(jié)果表明,Sunscan冠層分析儀測定的葉面積指數(shù)與傳統(tǒng)方法測定的葉面積指數(shù)有很好的相關(guān)性(r2=0.59~0.86)。隨著小麥生育進(jìn)程發(fā)展,兩者的相關(guān)性有下降的趨勢,主要因?yàn)樾←溕笃?冠層枯黃葉片影響Sunscan冠層分析儀的測定數(shù)據(jù),導(dǎo)致測定結(jié)果偏大;而葉片之間的遮蔽對兩者相關(guān)性并沒有顯著影響。因此,在實(shí)際的測量過程中,通過抬高底端的測量位置可以減小枯黃葉片對測量的影響。

熱門知識

植物冠層圖像分析儀

精華知識

植物冠層圖像分析儀

最新知識

植物冠層圖像分析儀
點(diǎn)擊加載更多>>

相關(guān)問答

植物冠層圖像分析儀
點(diǎn)擊加載更多>>
專題概述
植物冠層圖像分析儀相關(guān)專題

分類檢索：