2019年經(jīng)全國科學技術名詞審定委員會審定發(fā)布。
《物理學名詞》第三版。
干涉原理上來說,白光和激光沒有本質區(qū)別,就是頻率有差別而已 。但目前使用的大部分邁克爾遜干涉儀是 白光式的。
觀察條紋反差起伏周期光程差改變量相干度相干度=平均波平/波差波差=平均波平/相干度原理:假設反差光程差改變量=(m+1)λ1=mλ2=相干度m=λ1/(λ2-λ1)相干度=mλ...
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,它是以白光干涉技術為原理,光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束,一束經(jīng)被測表面反射回來,另外一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)...
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用白光干涉儀自動測量金剛石砂輪表面形貌時,為了獲得更精準的干涉區(qū)域,在干涉儀所采集到的一系列圖像中,首先通過計算相鄰的2張圖像各像素灰度值的變化從而得到一系列新的灰度圖像。然后計算每幀新圖像的非零點像素的均值和極值,據(jù)此計算得出用于確定干涉區(qū)域的閾值以實現(xiàn)自動掃描。實驗表明:此方法運算速度較快,而且對局部區(qū)域的干涉更敏感,可以更精確地搜索出干涉區(qū)間。采用步進電機和壓電陶瓷二級驅動,可以在100 s內(nèi)實現(xiàn)100μm范圍內(nèi)掃描區(qū)間的自動獲取并實現(xiàn)垂直方向的數(shù)據(jù)采集。
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用激光干涉儀系統(tǒng)進行精確的線性測量 — 最佳操作及實踐經(jīng)驗 1 簡介 本文描述的最佳操作步驟及實踐經(jīng)驗主要針對使用激光干涉儀校準機床如車床、銑床以及 坐標測量機的線性精度。但是,文中描述的一般原則適用于所有情況。與激光測量方法相 關的其它項目,如角度、平面度、直線度和平行度測量不包括在內(nèi),用于實現(xiàn) 0.1 微米即 0.1 ppm 以下的短距離精度測量的特殊方法(如真空操作)也不包括在內(nèi)。 微米是極小的距離測量單位。( 1 微米比一根頭發(fā)的 1/25 還細。由于太細,所以肉眼無 法看到,接近于傳統(tǒng)光學顯微鏡的極限值)??蓪崿F(xiàn)微米級及更高分辨率的數(shù)顯表的廣泛 使用,為用戶提供了令人滿意的測量精度。盡管測量值在小數(shù)點后有很多位數(shù),但并不表 明都很精確。(在許多情況下精度比顯示的分辨率低 10-100 倍)。實現(xiàn) 1 微米的測量分 辨率很容易,但要得到 1 微米的測量精度需要特別注意一些細節(jié)。本文
本規(guī)程適用于新制造、使用中和修理后的激光干涉比長儀的檢定。
比長儀是以不接觸光學定位方法瞄準被測長度,主要用于測量線紋距離的精密長度測量工具。
比長儀一般采用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量值。比長儀主要用于檢定線紋尺,測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用于測量孔徑。
比長儀按結構布局分為縱向的和橫向的兩類。縱向比長儀采用線紋尺作為已知長度,且結構設計符合阿貝原則,稱為阿貝比長儀。測量時,先用測量顯微鏡瞄準被測線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動工作臺,再用測量顯微鏡瞄準另一被測線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個數(shù)值之差即是被測兩線條間距離。
橫向比長儀的被測長度和已知長度是并列布置的,這種布局可以縮短導軌長度,但要求導軌精度高。采用愛賓斯坦光學系統(tǒng),可以補償結構不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者,稱為光電比長儀;采用激光或其他單色光波長作為已知長度者,分別稱為激光比長儀和光電光波比長儀。阿貝比長儀的測量精確度為±1~±1.5微米/200毫米,光電比長儀可達到±0.5微米/1000毫米,而光電光波比長儀和激光比長儀則可達到±0.2微米/1000毫米。