WLD-4C光電直讀光譜儀技術參數(shù)

1.激發(fā)光源：電源電壓：50Hz、220V±10%

輸入功率：1.0KVA

2.分光儀系統(tǒng)：分析波段范圍：175－450nm

色散率：0.55nm/mm

曲率半徑：750mm

刻劃密度：2400線/mm

允許最多通道：36個

分光儀局部恒溫：30℃±0.1℃

3.測控系統(tǒng)：測量方式：分段積分

測量重現(xiàn)性：RSD≤0.2%

4.數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：計算機：采用工控嵌入式系統(tǒng)、液晶顯示屏

應用軟件：采用Windows系統(tǒng)下的中文操作軟件

（1）儀器結構設計合理，更加小型化、集成化。

（2）分析速度快、重復性好、穩(wěn)定性好。

（3）采用高集成化采集和控制系統(tǒng)，自動化程度高。

（4）可用于多種基體分析：黑色金屬：Fe、Co、Ni、Ti；有色金屬Cu、AI、Pb、Mg、Zn、Sn。

（5）采用高重復性、高穩(wěn)定性的激發(fā)光源，激發(fā)頻率在150-600Hz之間變化，根據(jù)用戶所分析材質選用，以達到最佳的分析效果。

（6）采用Windows系統(tǒng)下的中文操作軟件，方便簡捷。

（7）建有數(shù)據(jù)庫，可通過網(wǎng)絡遠程傳輸數(shù)據(jù)。

（8）抗震性能強，不需作防震基礎。

（9）采用局部恒溫，既保證了儀器的正常運行，又降低了對環(huán)境的要求。

1.環(huán)境：溫度20℃±5℃，相對溫度不大于70%

2.氬氣：要求純度優(yōu)于99.999%

3.電源：AC 380V±10% 50Hz 3KW，三項四線配置

4.地線：不得借用其它地線，必須專用，要求接地電阻小于2Ω。2100433B

在工業(yè)生產中，由于光電直讀光譜儀分析費用節(jié)省，分析速度快，分析結果可靠，已被廣泛采用。它具有以下優(yōu)點。

(1)用光電直讀光譜儀做分析，可使用的譜線波長范圍較寬。這個范圍由光電倍增管的性能決定。例如，用石英窗孔的PMT，加上光譜儀的光學系統(tǒng)置于真空中，可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的譜線來分析。

(2)校準曲線范圍寬。由于PMT對信號的放大能力很大，對于強弱不同的譜線所用的PMT可用不同的放大倍數(shù)。相差可達10000倍。因此，光電法可用同一分析條件對樣品中許多元素進行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時分析。

(3)攝譜法的感光板及測光方面引入的誤差一般在l%以上。而光電直讀光譜儀的測光誤差可降至0.2%以下。具有很高的準確度。有利于樣品中高含量元素的分析，而且準確。

(4)光電直讀光譜儀分析速度快，一般收到樣品2～3min內即可同時對鋼中20多個合金元素進行測量，控制冶煉工藝，加速煉鋼過程，是節(jié)能減排的一種有效手段。

光電直讀光譜儀分析的缺陷有以下幾點。

(1)由于使用出射狹縫，因此不能利用波長相近的譜線。

(2)由于使用出射狹縫，PMT接收譜線的同時，還接收背景(采用BKG 175．7nm背景通道，可扣除背景的影響)。

(3)出射狹縫的位置固定，分析的元素受到限制，對分析任務的變化需更改通道，選擇另外的出射狹縫。

(4)由于背景的存在，對痕量元素的分析有些困難。

(5)它不是一個獨立的方法，而是要依靠化學分析。要求化學分析提供光譜的標準樣品的準確含量，校對光譜的分析結果。

光電直讀光譜儀由光源部分、聚光部分、分光部分和測光部分所組成。光源部分使試樣激發(fā)發(fā)光；聚光部分是把發(fā)出的光聚集起來導入分光部分；分光部分是將光色散成各元素的譜線；測光部分是用光電法測量各元素的譜線強度，并指示、記錄下來，或是將其測光讀數(shù)換算成為元素質量分數(shù)表示出來。

1．光源發(fā)生器

光電光譜分析使用的光源發(fā)生器有火花發(fā)生器、電弧發(fā)生器和低壓電容放電發(fā)生器等。

2．光源的電極架部分

用于裝載塊狀試樣、棒狀試樣和對電極。塊狀電極架一般能裝直徑20mm以上的平面試樣，有的使用各種樣品夾具能兼用于裝棒狀試樣、小型試樣和薄板試樣。在真空光電光譜儀中，光源電極架具有使用氬氣氣氛的結構，氬氣流量可以用流量計和自動閥來調節(jié)控制。

3．聚光裝置

由聚光鏡系統(tǒng)組成，其作用是把光源的光聚集起來，并使之射入分光系統(tǒng)。對于該系統(tǒng)一般要求能充分利用光源發(fā)出的光輻射，得到大的光強；同時要充分發(fā)揮儀器功能，達到應有的分辨能力。通常使用單透鏡成像法、三透鏡中間成像法和圓柱面透鏡成像法，使光源發(fā)出的光成像于準直鏡。

4．分光器

是由入射狹縫、分光元件和出射狹縫系統(tǒng)組成，進入入射系統(tǒng)的光，經(jīng)分光元件分光，由出射狹縫系統(tǒng)選擇各元素的譜線。由于鐵的譜線很多，兇此最好用大色散的分光元件。分光器根據(jù)其內部是在真空下還是在非真空下使用，可分為真空型和非真空型兩大類。

5．測光裝置

由光電倍增管、積分單元、記錄器或指示器等組成。內標線和分析線的光電倍增管將各自接收的從出射狹縫來的光，使之變成電流，再分別向積分電容充電。

6．真空型光電光譜儀的真空系統(tǒng)

由于硫、磷、碳、氮等元素的靈敏線位于200nm以下波段范圍內，而這些波段的輻射將被空氣吸收，因此，必須將光電光譜儀的光學系統(tǒng)置于真空之中，才能進行這些元素的分析。為此測定硫、磷、碳等元素時，必須使用真空光電光譜儀。真空光電光譜儀除一般光電光譜儀的裝置外，還需增加真空系統(tǒng)和控制氣氛兩個裝置。

光電直讀光譜儀一般是由制造廠家根據(jù)用戶的分析任務在出廠前調整好的。儀器上的通道數(shù)量、分析元素的含量范圍、分析線和內標線的選擇等，調整好以后，都是固定的。選擇儀器應注意以下事項：

(1)光源發(fā)生器的選擇

為進行多種樣品和元素的分析，需要各種發(fā)生器。同時測定多種元素時，根據(jù)測定范圍選一種激發(fā)方法。

火花光源比較適合于同時測定多種元素，如金屬中的合金成分和雜質元素的定量分析。電弧光源適用于測定樣品中的痕量成分。低壓電容放電光源使電路參數(shù)變化達到從電弧到火花階段性變化，可用于多目的的分析。

(2)分光計的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測定范圍、鄰近譜線對分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測定波長范圍和亮度來選定。

(3)分析線的選擇

分析元素和內標元素的譜線應選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。 2100433B