afm伐木機(jī)

AFM 45和50L是針對(duì)于疏伐的通用型采伐機(jī)頭。L型號(hào)的采伐機(jī)頭均可適用于全部硬、軟木的作業(yè)。短框架結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使AFM 45L與50L型采伐機(jī)頭在對(duì)于彎曲樹(shù)木的處理時(shí)非常便于操作。AFM45L與50L型采伐機(jī)頭均非常輕便及易于操作，非常配合環(huán)保疏伐的理念。

AFM45或者50科羅納機(jī)頭是與小型森林機(jī)械主機(jī)配合，進(jìn)行疏伐和皆伐的正確選擇。AFM科羅納機(jī)頭在緊密的森林中的疏伐作業(yè)具有非?？焖佟⒉僮鞅憬莸奶匦?，并同時(shí)具有足夠的功率進(jìn)行皆伐作業(yè)。AFM科羅納機(jī)頭上配置的四個(gè)可移動(dòng)枝椏剃刀可保證從樹(shù)干底部到樹(shù)冠的高質(zhì)量枝椏清除性能。滾軸臂與剃刀上均衡的壓力處理降低了對(duì)木材纖維的損害。憑借著三滾軸傳動(dòng)的幾何學(xué)設(shè)計(jì)，您可輕易的對(duì)較大型樹(shù)干進(jìn)行作業(yè)。

以上兩種型號(hào)均能配合輔具對(duì)多樹(shù)種進(jìn)行操作，例如對(duì)能源類木材作業(yè)。

高強(qiáng)度的框架使AFM45與50系列不僅針對(duì)輪式主機(jī)，并且配合覆帶式收割機(jī)均具有極高的可靠性。

技術(shù)參數(shù):AFM40/50

AFM 58哈士奇采伐機(jī)頭是針對(duì)軟木的皆伐和疏伐，且要求高質(zhì)量枝椏清除效果的最佳選擇。它強(qiáng)勁的傳動(dòng)力，結(jié)合它的三滾軸傳動(dòng)系統(tǒng)及兩副枝椏清除剃刀，可在所有條件下提供強(qiáng)大的生產(chǎn)力。高壓液壓系統(tǒng)設(shè)計(jì)可保證從主機(jī)到最終作業(yè)環(huán)節(jié)均能配以最大動(dòng)力。憑借著AFM 58哈士奇的無(wú)滑移式傳動(dòng)系統(tǒng)，您仍能在樹(shù)干數(shù)量達(dá)到作業(yè)最大極限時(shí)進(jìn)行輕松操作。

在中型森林機(jī)械和14到22噸范圍內(nèi)的挖掘機(jī)上AFM 58 哈士奇能表現(xiàn)出最佳性能。

技術(shù)參數(shù)：AFM 58 哈士奇

AFM60L是一臺(tái)特別針對(duì)配合輪式主機(jī)作業(yè)而設(shè)計(jì)的高產(chǎn)能、大功率的采伐機(jī)頭。它可輕易地配合各尺寸的主機(jī)。AFM60L的高產(chǎn)能與強(qiáng)勁的動(dòng)力可用來(lái)進(jìn)行終極皆伐作業(yè)。因?yàn)榫o湊的設(shè)計(jì)使其擁有足夠輕的重量，從而在隨后的疏伐中極易操縱。AFM60L采伐機(jī)頭配有一副能對(duì)極低質(zhì)量的木材進(jìn)行加工處理的重型強(qiáng)力剃刀。AFM60L在定制的收割機(jī)上極易進(jìn)行安裝，并能完美的配合絕大多數(shù)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行工作。

關(guān)于AFM60L的承載設(shè)備，我們推薦12到18噸的輪式森林機(jī)械主機(jī)。

AFM60采伐機(jī)頭以其強(qiáng)勁、可靠及適用性的特點(diǎn)享有盛譽(yù)?；谒o湊的設(shè)計(jì)，AFM60可完美的適用于全部硬、軟木類的作業(yè)。短小的框架配以一副重型強(qiáng)力枝椏清除剃刀可輕易的對(duì)長(zhǎng)有粗壯樹(shù)枝且質(zhì)量極低的樹(shù)木進(jìn)行加工處理。AFM60可適用于所有類型的采伐方式及作業(yè)：定長(zhǎng)剪切，原條采伐，以及原木的處理和加工。AFM60的長(zhǎng)打枝臂可從容的進(jìn)行從原木規(guī)整成堆到拾撿被風(fēng)吹倒樹(shù)木的相關(guān)作業(yè)，并使得您的設(shè)備像森林收割機(jī)或木材處理機(jī)一樣工作。

AFM60可完美的適配于20噸的挖掘機(jī)或者14到17噸的森林機(jī)械主機(jī)。

技術(shù)參數(shù)：AFM60L/60

AFM60優(yōu)卡是針對(duì)大型桉樹(shù)剝皮作業(yè)的最高效的采伐機(jī)頭。此采伐機(jī)頭是所有AFM機(jī)頭杰出特性的完美組合，能夠針對(duì)桉樹(shù)林作業(yè)創(chuàng)造出極為高效的操作方案。AFM60優(yōu)卡上特殊的剝皮滾軸組在斜角上可進(jìn)行多切邊操作，從而產(chǎn)生一種螺旋式的樹(shù)干傳動(dòng)并提供質(zhì)量最好、速度最快的剝皮作業(yè)。憑借著其可靠的液壓系統(tǒng)及可防水滴附著的密封原件，AFM60優(yōu)卡非常適合在熱帶雨林中使用。強(qiáng)大的測(cè)量器保護(hù)結(jié)構(gòu)以及許多其他在機(jī)頭中包括的重要細(xì)節(jié)均為高要求的剝皮作業(yè)而特殊定制。

AFM60優(yōu)卡最適合于20至25噸的挖掘機(jī)配合使用。并且是針對(duì)桉樹(shù)林作業(yè)的最好的采伐機(jī)頭。

技術(shù)參數(shù)：AFM60優(yōu)卡

AFM于2010年1月首次進(jìn)入中國(guó)，為迎合市場(chǎng)需求，在大陸設(shè)立中國(guó)總代理機(jī)構(gòu)，青島同潤(rùn)偉業(yè)貿(mào)易有限公司，并與此同時(shí)引進(jìn)了中國(guó)第一臺(tái)AFM伐木機(jī)。

AFM-Forest Ltd is a Finnish company manufacturing high-quality harvester, processor, combi, energy wood and felling heads for demanding forest operations. Our years of experience in the forest-machines market, combined with the high competence of our personnel, ensure the successful performance of AFM heads around the world. With a good reputation in the forest-machines market, we offer our customers high quality and versatile logging solutions.

原子力顯微鏡(AFM)

1985年，Binnig, Gerber和Quate開(kāi)發(fā)成功了首臺(tái)AFM（atomic force microscope, 原子力顯微鏡）。在表面科學(xué)、納米技術(shù)領(lǐng)域、生物電子等領(lǐng)域， SPM（scanning probe microscopy）逐漸發(fā)展成為重要的、多功能材的材料表征工具。

STM 要求樣品表面導(dǎo)電，而AFM可以測(cè)試絕緣體的表面形貌和性能。因?yàn)镾TM的基本原理是通過(guò)測(cè)量探針與樣品表面的隧道電流大小來(lái)探測(cè)表面形貌，而AFM是測(cè)量探針與樣品表面的相互作用力。AFM由四個(gè)部分組成：機(jī)械運(yùn)動(dòng)部分、懸臂偏轉(zhuǎn)信號(hào)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)、控制信號(hào)反饋系統(tǒng)， 成像和信息處理軟件系統(tǒng)。探針與樣品之間的相互作用力使微懸臂向上或向下偏轉(zhuǎn)，利用激光將光照射在懸臂的末端，反射光的位置改變就用來(lái)測(cè)器此懸臂的偏移量，這種檢測(cè)方法最先由Meyer 和Amer提出。機(jī)械部分的運(yùn)動(dòng)（探針上、下以及橫向掃描運(yùn)動(dòng)）是有精密的壓電陶瓷控制。激光反射探測(cè)采用PSD。反饋和成像系統(tǒng)控制探針和樣品表面間距以及最后處理實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。

原子力顯微鏡AFM操作模式

隨著AFM技術(shù)的發(fā)展，各種新應(yīng)用不斷涌現(xiàn)。具體包括如下技術(shù):

(1) 接觸模式 (contact mode) 最早的模式，探針和樣品直接接觸，探針容易磨損，因此要求探針較軟，即懸臂的彈性系數(shù)小，一般小于1N/m。

(2) 輕敲模式 （tapping mode） 也叫Dynamic Force或者Intermittant-contact。探針在外力驅(qū)動(dòng)下共振，探針部分振動(dòng)位置進(jìn)入力曲線的排斥區(qū)，因此探針間隙性的接觸樣品表面。探針要求很高的懸臂彈性系數(shù)來(lái)避免與樣品表面的微層水膜咬死。Tapping mode對(duì)樣品作用力小，對(duì)軟樣品特別有利于提高分辨率。同時(shí)探針的壽命也較contact mode的稍長(zhǎng)。

以上是最常用的AFM模式，別的模式還有很多：如

Lateral Force Microscopy（橫向力顯微鏡，檢測(cè)樣品表面微區(qū)對(duì)探針橫向的摩擦力，可以獲得材料的力學(xué)性能），

Noncontact mode Force（非接觸模式顯微鏡，與tapping mode基本相同，區(qū)別是非接觸模式探針工作在力曲線的吸引區(qū)），

Force Modulation （力調(diào)制顯微鏡，探針對(duì)檢測(cè)樣品表面微區(qū)有很大的力，可以獲得材料微區(qū)的彈性系數(shù)等力學(xué)性能），

CFM chemical force microscopy

EFM electric force microscopy

KFM Kelvin force microscopy

MFM magnetic force microscopy

SThM Scanning thermal microscopy

SCM Scanning capacitance microscope

SCPM Scanning chemical potential microscope

SEcM Scanning electrochemical microscope

SICM Scanning ion conductance microscope

SKPM Scanning Kelvin probe microscope

SThM Scanning thermal microscope

STOS Scanning tunneling optical spectrometer

（3）非接觸模式（non-contact mode）。在非接觸模式中，針尖在樣品表面上方振動(dòng)，始終不與樣品接觸，探針檢測(cè)器檢測(cè)的是范德瓦爾斯力和靜電力等對(duì)成像樣品的無(wú)破壞的長(zhǎng)程作用力。這種模式雖然增加了顯微鏡的靈敏度，擔(dān)當(dāng)針尖與樣品之間的距離較長(zhǎng)時(shí)，分辨率要比接觸式和輕敲式都低，而且成像不穩(wěn)定，操作相對(duì)困難，通常不適用于在液體中成像，在生物中的應(yīng)用也比較少。

原子力顯微鏡的特點(diǎn)：

（1）高分辨力能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）以及光學(xué)粗糙度儀。試樣表面的三維數(shù)據(jù)滿足了研究、生產(chǎn)、質(zhì)量檢測(cè)越來(lái)越微觀化的要求。

（2）非破壞性。探針與樣品表面相互作用力在10-8N以下，遠(yuǎn)比以往觸針式粗糙度儀壓力小，因此不會(huì)損傷樣品，也不存在掃描電子顯微鏡的電子束損傷問(wèn)題。另外掃描電子顯微鏡要求對(duì)不導(dǎo)電的樣品進(jìn)行鍍膜處理，而原子力顯微鏡則不需要。

（3）應(yīng)用范圍廣，可用于表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙測(cè)定、顆粒度解析、突起與凹坑的統(tǒng)計(jì)處理、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層的尺寸臺(tái)階測(cè)定、層間絕緣膜的平整度評(píng)價(jià)、VCD涂層評(píng)價(jià)、定向薄膜的摩擦處理過(guò)程的評(píng)價(jià)、缺陷分析等。

（4）軟件處理功能強(qiáng)，其三維圖像顯示其大小、視角、顯示色、光澤可以自由設(shè)定。并可選用網(wǎng)絡(luò)、等高線、線條顯示。圖像處理的宏管理，斷面的形狀與粗糙解析，形貌解析等多種功能。

各種模式和應(yīng)用要求性能各異的探針，而探針的性能指標(biāo)是決定顯微鏡分辨率的最關(guān)鍵的因素。

AFM探針?lè)诸惣案魈结?/p>

AFM探針基本都是由MEMS技術(shù)加工 Si 或者 Si3N4來(lái)制備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個(gè)一般100~500μm長(zhǎng)和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長(zhǎng)、10μm寬、數(shù)微米厚。

利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開(kāi)發(fā)了各種不同應(yīng)用領(lǐng)域的顯微鏡，如AFM（范德法力），靜電力顯微鏡EFM（靜電力）磁力顯微鏡MFM（靜磁力）側(cè)向力顯微鏡LFM（探針側(cè)向偏轉(zhuǎn)力）等， 因此有對(duì)應(yīng)不同種類顯微鏡的相應(yīng)探針。

原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種：

（1）、 非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：最常用的產(chǎn)品，分辨率高，使用壽命一般。使用過(guò)程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降。主要應(yīng)用與表面形貌觀察。

（2）、 導(dǎo)電探針：通過(guò)對(duì)普通探針鍍10-50納米厚的Pt（以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。導(dǎo)電探針應(yīng)用于EFM，KFM，SCM等。導(dǎo)電探針?lè)直媛时萾apping和contact模式的探針差，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落，導(dǎo)電性難以長(zhǎng)期保持。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖，全金屬絲針尖，這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點(diǎn)。

（3）、磁性探針：應(yīng)用于MFM，通過(guò)在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備，分辨率比普通探針差，使用時(shí)導(dǎo)電鍍層容易脫落。

（4）、大長(zhǎng)徑比探針：大長(zhǎng)徑比針尖是專為測(cè)量深的溝槽以及近似鉛垂的側(cè)面而設(shè)計(jì)生產(chǎn)的。特點(diǎn)：不太常用的產(chǎn)品，分辨率很高，使用壽命一般。技術(shù)參數(shù)：針尖高度> 9μm；長(zhǎng)徑比5:1；針尖半徑< 10 nm。

（5）、類金剛石碳AFM探針/全金剛石探針：一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜，另外一種是全金剛石材料制備（價(jià)格很高）。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。

還有生物探針（分子功能化），力調(diào)制探針，壓痕儀探針

AFM探針由于應(yīng)用范圍僅限于原子力顯微鏡，屬于高科技儀器的耗材，應(yīng)用領(lǐng)域不廣，全世界的使用量也不多。生產(chǎn)上，世界范圍有近十幾家工廠開(kāi)發(fā)生產(chǎn)各種AFM探針，市場(chǎng)基本飽和了。主要的生產(chǎn)廠家分布在德國(guó)，瑞士，保加利亞，美國(guó)，俄羅斯，日本，以色列、意大利和韓國(guó)等。不過(guò)由于目前的探針壽命短，分辨率不高也不穩(wěn)定且一致性差，各國(guó)都在開(kāi)發(fā)新型探針。新型探針包括cnt修飾探針，納米材料修飾探針等。國(guó)內(nèi)開(kāi)展原子力顯微鏡探針的研究、生產(chǎn)和銷售的單位有：研究型（哈爾濱工業(yè)大學(xué)，東南大學(xué)），生產(chǎn)銷售型（北京五澤坤科技公司）。