中文名 | 干涉比長儀 | 外文名 | interference comparator |
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所屬學(xué)科 | 物理學(xué) | 公布時間 | 2019年 |
《物理學(xué)名詞》第三版。
2019年經(jīng)全國科學(xué)技術(shù)名詞審定委員會審定發(fā)布。
干涉原理上來說,白光和激光沒有本質(zhì)區(qū)別,就是頻率有差別而已 。但目前使用的大部分邁克爾遜干涉儀是 白光式的。
觀察條紋反差起伏周期光程差改變量相干度相干度=平均波平/波差波差=平均波平/相干度原理:假設(shè)反差光程差改變量=(m+1)λ1=mλ2=相干度m=λ1/(λ2-λ1)相干度=mλ...
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,它是以白光干涉技術(shù)為原理,光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束,一束經(jīng)被測表面反射回來,另外一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)...
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評分: 4.6
用激光干涉儀系統(tǒng)進行精確的線性測量 — 最佳操作及實踐經(jīng)驗 1 簡介 本文描述的最佳操作步驟及實踐經(jīng)驗主要針對使用激光干涉儀校準(zhǔn)機床如車床、銑床以及 坐標(biāo)測量機的線性精度。但是,文中描述的一般原則適用于所有情況。與激光測量方法相 關(guān)的其它項目,如角度、平面度、直線度和平行度測量不包括在內(nèi),用于實現(xiàn) 0.1 微米即 0.1 ppm 以下的短距離精度測量的特殊方法(如真空操作)也不包括在內(nèi)。 微米是極小的距離測量單位。( 1 微米比一根頭發(fā)的 1/25 還細(xì)。由于太細(xì),所以肉眼無 法看到,接近于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的極限值)??蓪崿F(xiàn)微米級及更高分辨率的數(shù)顯表的廣泛 使用,為用戶提供了令人滿意的測量精度。盡管測量值在小數(shù)點后有很多位數(shù),但并不表 明都很精確。(在許多情況下精度比顯示的分辨率低 10-100 倍)。實現(xiàn) 1 微米的測量分 辨率很容易,但要得到 1 微米的測量精度需要特別注意一些細(xì)節(jié)。本文
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評分: 4.5
SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品采用美國進口高穩(wěn)頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩(wěn)頻技術(shù)、高 精度環(huán)境補償模塊、 幾何參量干涉光路設(shè)計、 高精度激光干涉信號處理系統(tǒng)、 高性能計算機 控制系統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)各種參數(shù)的高精度測量。通過激光熱穩(wěn)頻控制技術(shù),實現(xiàn)快速 (約 6 分 鐘)、高精度 (0.05ppm)、抗干擾能力強、長期穩(wěn)定性好的激光頻率輸出,采用不同的光學(xué)鏡 組可以測量出線性、角度、直線度、平面度和垂直度等幾何量,并且可以進行動態(tài)分析。 SJ6000 激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、最高測速下分辨率高、測量范 圍大等優(yōu)點。通過與不同的光學(xué)組件結(jié)合,可以實現(xiàn)對直線度、垂直度、角度、平面度、平 行度等多種幾何精度的測量。在相關(guān)軟件的配合下,還可以對數(shù)控機床進行動態(tài)性能檢測, 可以進行機床振動測試與分析, 滾珠絲桿的動態(tài)特性分析, 驅(qū)動系統(tǒng)的響應(yīng)特性分析, 導(dǎo)軌 的動態(tài)特性分析等,具有極高的精度
本規(guī)程適用于新制造、使用中和修理后的激光干涉比長儀的檢定。
比長儀是以不接觸光學(xué)定位方法瞄準(zhǔn)被測長度,主要用于測量線紋距離的精密長度測量工具。
比長儀一般采用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準(zhǔn)定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量值。比長儀主要用于檢定線紋尺,測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用于測量孔徑。
比長儀按結(jié)構(gòu)布局分為縱向的和橫向的兩類??v向比長儀采用線紋尺作為已知長度,且結(jié)構(gòu)設(shè)計符合阿貝原則,稱為阿貝比長儀。測量時,先用測量顯微鏡瞄準(zhǔn)被測線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得一數(shù)值。然后移動工作臺,再用測量顯微鏡瞄準(zhǔn)另一被測線條,從讀數(shù)顯微鏡讀得另一數(shù)值。這兩個數(shù)值之差即是被測兩線條間距離。
橫向比長儀的被測長度和已知長度是并列布置的,這種布局可以縮短導(dǎo)軌長度,但要求導(dǎo)軌精度高。采用愛賓斯坦光學(xué)系統(tǒng),可以補償結(jié)構(gòu)不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者,稱為光電比長儀;采用激光或其他單色光波長作為已知長度者,分別稱為激光比長儀和光電光波比長儀。阿貝比長儀的測量精確度為±1~±1.5微米/200毫米,光電比長儀可達到±0.5微米/1000毫米,而光電光波比長儀和激光比長儀則可達到±0.2微米/1000毫米。