中文名 | 平板X(qián)射線(xiàn)探測(cè)器 | 產(chǎn)????地 | 美國(guó) |
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學(xué)科領(lǐng)域 | 機(jī)械工程 | 啟用日期 | 2005年5月25日 |
所屬類(lèi)別 | 特種檢測(cè)儀器 > 射線(xiàn)檢測(cè)儀器 > 高性能射線(xiàn)DR/ICT在線(xiàn)檢測(cè)裝置 |
工業(yè)錐束CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)部件,接收X射線(xiàn)成像。系統(tǒng)細(xì)節(jié)分辨率0.6mm,幾何測(cè)量精度±0.08mm,零件差異對(duì)測(cè)量精度有一定影響。 2100433B
探測(cè)器分辨率1536×1920,象素127μm,采集速度7.5fps(1×1),15fps(2×2)。
X射線(xiàn)探測(cè)器交流,搜索xrayfpd
X射線(xiàn)CMOS平板探測(cè)器 多少錢(qián)?
國(guó)內(nèi)外DR平板探測(cè)器,無(wú)線(xiàn)DR平板探測(cè)器,瓦里安平板探測(cè)器,非晶硒平板探測(cè)器,非晶硅平板探測(cè)器,碘化銫平板探測(cè)器,線(xiàn)陣平板探測(cè)器,影像增強(qiáng)器,影像成像系統(tǒng).
點(diǎn)型探測(cè)器和線(xiàn)型探測(cè)器有什么不同? 怎么區(qū)分?
布置在橋架里的是線(xiàn)形感溫探測(cè)器,感煙的都是點(diǎn)型的,早的時(shí)候用的是多煙感、溫感之類(lèi)的就是典型的啊,紅外對(duì)射的就是線(xiàn)型的。
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介紹了垂直多結(jié)器件的結(jié)構(gòu),給出了熱遷移制結(jié)的工藝條件和結(jié)果,特別介紹了處理器件電極引線(xiàn)的隔離線(xiàn)方法,解決了經(jīng)過(guò)熱遷移摻雜后光刻電極套不準(zhǔn)的難題,以及把所有p型區(qū)域連接起來(lái)的問(wèn)題,達(dá)到了敏感區(qū)金屬零遮擋的目的.同時(shí)分析了工藝條件對(duì)器件性能的影響.通過(guò)對(duì)敏感區(qū)和無(wú)效區(qū)的計(jì)算和對(duì)比,對(duì)器件的幾個(gè)電流參數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的計(jì)算;對(duì)兩種靶材的標(biāo)識(shí)譜在器件內(nèi)產(chǎn)生的光電子的收集效率做了計(jì)算,對(duì)器件的光譜響應(yīng)度也作了計(jì)算和分析;同時(shí)對(duì)器件窗口材料的選擇進(jìn)行了詳細(xì)討論;最后敘述對(duì)器件進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,通過(guò)對(duì)金屬模板上模擬缺陷的測(cè)量,證明器件有足夠的靈敏度和分辨率.
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評(píng)分: 4.5
PerkinElmer光電公司推出了一種高速度、高數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)字X射線(xiàn)探測(cè)器,應(yīng)用于工業(yè)和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,如:管線(xiàn)檢測(cè)、診斷及治療醫(yī)學(xué)成像等。這種無(wú)定形硅基(a-Si)數(shù)字X射線(xiàn)探測(cè)器能提供30fps拍攝速率、16bit分辨率的實(shí)時(shí)圖像。該探測(cè)器能抗
x射線(xiàn)探測(cè)器是一種將X射線(xiàn)能量轉(zhuǎn)換為可供記錄的電信號(hào)的裝置。它接收到射線(xiàn)照射,然后產(chǎn)生與輻射強(qiáng)度成正比的電信號(hào)。 通常探測(cè)器所接受到的射線(xiàn)信號(hào)的強(qiáng)弱,取決于該部位的人體截面內(nèi)組織的密度。密度高的組織,例如骨骼吸收x射線(xiàn)較多,探測(cè)器接收到的信號(hào)較弱;密度較低的組織,例如脂肪等吸收x射線(xiàn)較少,探測(cè)器獲得的信號(hào)較強(qiáng)。這種不同組織對(duì)x射線(xiàn)吸收值不同的性質(zhì)可用組織的吸收系數(shù)m來(lái)表示,所以探測(cè)器所接收到的信號(hào)強(qiáng)弱所反映的是人體組織不同的m值,從而對(duì)組織性質(zhì)做出判斷。
氣體探測(cè)器均以氣體作為探測(cè)介質(zhì),內(nèi)部多充有以多種惰性氣體為主混合氣體,并在探測(cè)器兩極加上電壓小室。其小室的形狀大小結(jié)構(gòu)因氣體探測(cè)器的不同會(huì)有加大差別。在探測(cè)器使用時(shí)我們多將內(nèi)部氣體大氣壓加至2到3個(gè)大氣壓,這樣可以有效提高氣體探測(cè)器的探測(cè)效率。氣體探測(cè)器的工作原理是通過(guò)收集電離電荷獲取核輻射信息來(lái)實(shí)現(xiàn)的,因?yàn)樯渚€(xiàn)粒子在靈敏體積內(nèi)產(chǎn)生電子離子對(duì),在電離室中電子離子對(duì)由于收集電場(chǎng)的作用分別向內(nèi)壁和中心絲運(yùn)動(dòng),從而通過(guò)探測(cè)器捕捉到所需信息。氣體探測(cè)器不同類(lèi)型的電離室在結(jié)構(gòu)上基本相同.其典型結(jié)構(gòu)分為平板型與圓柱型,如圖2所示。在這些結(jié)構(gòu)類(lèi)型中均包括:
高壓極(K):正高壓或負(fù)高壓;
收集極(C):與測(cè)量?jī)x器相聯(lián)的電極,處于與地接近的電位;
保護(hù)極(G):又稱(chēng)保護(hù)環(huán),處于與收集極相同的電位;
負(fù)載電阻(RL):電流流過(guò)時(shí)形成電壓信號(hào)。
氣體探測(cè)器具有制備簡(jiǎn)單、性能可靠、成本低廉、使用方便等優(yōu)點(diǎn),有廣泛的應(yīng)用。20世紀(jì)70年代以來(lái),氣體探測(cè)器有很大發(fā)展,在高能物理和重離子物理實(shí)驗(yàn)中獲得新的應(yīng)用,并應(yīng)用于核醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、天體物理、凝聚態(tài)物理和等離子體物理等領(lǐng)域。
在介紹閃爍探測(cè)器之前,必須先了解光脈沖,當(dāng)閃爍物質(zhì)受到放射線(xiàn)或其他高能粒子輻照時(shí)會(huì)激發(fā)阻止介質(zhì)原子,被激發(fā)的原子由激發(fā)態(tài)退激回到基態(tài)時(shí)會(huì)形成熒光脈沖[7]。閃爍探測(cè)器正是利用某些物質(zhì)在核輻射的作用下會(huì)發(fā)光的這一特性工作的。閃爍探測(cè)器主要是由被封閉在一個(gè)不透明的外殼里的閃爍體、接收光的收集系統(tǒng)、光—電子轉(zhuǎn)換的光探測(cè)光電器件(如光電管、光電倍增管、光電二極管),以及光電探測(cè)器后續(xù)電路輸出系統(tǒng)等組合而成。這些器件組合在一起被統(tǒng)稱(chēng)為閃爍探測(cè)器系統(tǒng)。閃爍探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示。
閃爍探測(cè)器的工作原理是:放射線(xiàn)入射到閃爍體后發(fā)出熒光;熒光光子被收集到光電倍增管的光陰極,通過(guò)光電效應(yīng)轉(zhuǎn)換出光電子;光電子通過(guò)電子運(yùn)動(dòng)并在光電倍增管各級(jí)間倍增,最后在陽(yáng)極輸出回路輸出信號(hào)。閃爍探測(cè)器的探測(cè)動(dòng)態(tài)范圍很寬,對(duì)能量在1eV到1GeV范圍內(nèi)的輻射粒子都適用[8],如今己成為最常用的探測(cè)器,在高能物理學(xué)、地球物理學(xué)、輻射醫(yī)學(xué)、放射化學(xué)等眾多領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用。其主要應(yīng)用類(lèi)型種類(lèi)可分為:能譜測(cè)量、劑量測(cè)量、強(qiáng)度測(cè)量、時(shí)間測(cè)量。閃爍體探測(cè)器主要具備以下幾方面的優(yōu)點(diǎn):
其外形結(jié)構(gòu)和大小的制作相對(duì)隨意,可以做成任意大小和形狀;
探測(cè)效率高,適合于測(cè)量不帶電粒子,如γ射線(xiàn)、X射線(xiàn)和中子等;三是時(shí)間特性好,有的探測(cè)器(如塑料閃爍體、BaF2)能夠?qū)崿F(xiàn)ns的時(shí)間分辨?;谝陨蟽?yōu)點(diǎn),閃爍體探測(cè)器被廣泛應(yīng)用于空間X射線(xiàn)探測(cè)領(lǐng)域。
半導(dǎo)體探測(cè)器是以半導(dǎo)體材料為探測(cè)介質(zhì)的輻射探測(cè)器。鍺和硅是我們最通用的半導(dǎo)體探測(cè)材料,其基本原理與氣體電離室相類(lèi)似。晶體計(jì)數(shù)器可以認(rèn)為是半導(dǎo)體探測(cè)器的前身,20世紀(jì)初期人們發(fā)現(xiàn)在核輻射下可以通過(guò)某些固體電介質(zhì)產(chǎn)生電導(dǎo)現(xiàn)象,在這之后金剛石、氯化銀等晶體計(jì)數(shù)器又相繼被人們發(fā)明。可是我們至今無(wú)法解決晶體極化效應(yīng)的問(wèn)題,所以目前可以達(dá)到實(shí)用水平的只有金剛石探測(cè)器。20世紀(jì)中期有人在使用α粒子照射鍺半導(dǎo)體點(diǎn)接觸型二極管時(shí),發(fā)現(xiàn)有電脈沖輸出。1958年第一個(gè)金硅面壘型探測(cè)器被設(shè)計(jì)完成,直到20世紀(jì)60年代初期鋰漂移型探測(cè)器被研制成功后,半導(dǎo)體探測(cè)器才得到迅速的發(fā)展。
半導(dǎo)體探測(cè)器的工作原理如圖4所示。將工作電壓加在電極K和A上后,固體介質(zhì)內(nèi)部會(huì)形成很強(qiáng)的電場(chǎng)區(qū)。這時(shí)進(jìn)入介質(zhì)后的帶電粒子,因?yàn)殡婋x作用從而會(huì)產(chǎn)生電子——空穴對(duì),并且在強(qiáng)電場(chǎng)作用下,電子和空穴將各自按照自身相反的電極方向迅速移動(dòng),并產(chǎn)生感應(yīng)電荷,隨之形成信號(hào)脈沖輸出在負(fù)載RL上。由于半導(dǎo)體產(chǎn)生的電信號(hào)同入射粒子的能量損失成正比關(guān)系,所以我們可以由所測(cè)到的電信號(hào)計(jì)算出入射粒子的能量大小及其它相關(guān)性質(zhì)。半導(dǎo)體探測(cè)器的優(yōu)缺點(diǎn)均十分明顯,其能量分辨率高,探測(cè)效率高(可與閃爍探測(cè)器相比擬),體積小,較快的響應(yīng)時(shí)間等優(yōu)點(diǎn)是其他設(shè)備所無(wú)法比擬的。但同時(shí)探測(cè)器尺寸無(wú)法隨意增大,器件本身容易被射線(xiàn)損傷,價(jià)格偏高等劣勢(shì),也嚴(yán)重制約了其發(fā)展與應(yīng)用。
CT機(jī)種的X射線(xiàn)探測(cè)器結(jié)構(gòu)如圖1所示。位于管套中的真空管為旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極式的射線(xiàn)管。管內(nèi)設(shè)有陽(yáng)極、陰極、燈絲和轉(zhuǎn)子,在真空管外部對(duì)應(yīng)陽(yáng)極轉(zhuǎn)子處設(shè)有定子線(xiàn)圈。定子線(xiàn)圈通入電流產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng),在銅質(zhì)的轉(zhuǎn)子中產(chǎn)生。
一個(gè)典型的探測(cè)器包括:閃爍體、光電轉(zhuǎn)換陣列和電子學(xué)部分。此外還有軟件、電源等附件。目CT中常用的探測(cè)器類(lèi)型有兩種:
(1)是收集熒光的探測(cè)器,稱(chēng)閃爍探測(cè)器,也叫固體探測(cè)器。
(2)是收集氣體電離電荷的探測(cè)器稱(chēng)為氣體探測(cè)器。它收集電離作用產(chǎn)生的電子和離子,記錄由它們的電荷所產(chǎn)生的電壓信號(hào)。