X射線光電子能譜分析

X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價(jià)電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子，可以測(cè)量光電子的能量，以光電子的動(dòng)能為橫坐標(biāo)，相對(duì)強(qiáng)度(脈沖/s)為縱坐標(biāo)可做出光電子能譜圖，從而獲得待測(cè)物組成。

X射線光電子能譜分析基本信息

中文名 X射線光電子能譜分析 外文名 X-ray photoelectron spectroscopy
應(yīng)????用 元素的定性分析等 單????位 脈沖/s

1 元素的定性分析?？梢愿鶕?jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。

2 元素的定量分析。根據(jù)能譜圖光電子譜線強(qiáng)度(光電子峰的面積)反映原子的含量或相對(duì)濃度。

3 固體表面分析。包括表面的化學(xué)組成或元素組成，原子價(jià)態(tài)，表面能態(tài)分布，測(cè)定表面電子的電子云分布和能級(jí)結(jié)構(gòu)等。

4 化合物的結(jié)構(gòu)。可以對(duì)內(nèi)層電子結(jié)合能的化學(xué)位移精確測(cè)量，提供化學(xué)鍵和電荷分布方面的信息。

5 分子生物學(xué)中的應(yīng)用，e.g., 利用XPS鑒定維生素B12中的少量的Co。2100433B

X射線光電子能譜分析造價(jià)信息

市場(chǎng)價(jià) 信息價(jià) 詢價(jià)
材料名稱 規(guī)格/型號(hào) 市場(chǎng)價(jià)
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頻譜分析儀 品種:頻譜分析儀;說明:頻譜分析儀,100Hz-26.5GHz.;產(chǎn)品描述:E4407B; 查看價(jià)格 查看價(jià)格

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頻譜分析儀 品種:頻譜分析儀;規(guī)格型號(hào):HM-5014;產(chǎn)品說明:頻譜分析儀,0.5MHz-1GHz,數(shù)顯,分辨率10k,有跟蹤源,RS232.; 查看價(jià)格 查看價(jià)格

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臺(tái)班 汕頭市2010年4季度信息價(jià)
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臺(tái)班 汕頭市2010年3季度信息價(jià)
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臺(tái)班 廣州市2009年4季度信息價(jià)
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臺(tái)班 汕頭市2009年2季度信息價(jià)
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臺(tái)班 汕頭市2008年4季度信息價(jià)
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反光電子支架 YZBK-E40A 40W單支|4700根 1 查看價(jià)格 深圳市業(yè)創(chuàng)興照明電器有限公司 廣東  深圳市 2015-06-26
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X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價(jià)電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子，可以測(cè)量光電子的能量，以光電子的動(dòng)能為橫坐標(biāo)，相對(duì)強(qiáng)度(脈沖/s)為縱坐標(biāo)可做出光電子能譜圖，從而獲得待測(cè)物組成。XPS主要應(yīng)用是測(cè)定電子的結(jié)合能來實(shí)現(xiàn)對(duì)表面元素的定性分析，包括價(jià)態(tài)。 X射線光電子能譜因?qū)瘜W(xué)分析最有用，因此被稱為化學(xué)分析用電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA) 。1887年，Heinrich Rudolf Hertz發(fā)現(xiàn)了光電效應(yīng)。二十年后的1907年，P.D. Innes用倫琴管、亥姆霍茲線圈、磁場(chǎng)半球 (電子能量分析儀)和照相平版做實(shí)驗(yàn)來記錄寬帶發(fā)射電子和速度的函數(shù)關(guān)系。

X射線光電子能譜分析常見問題

  • X射線熒光光譜分析的結(jié)構(gòu)

    X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。它由...

  • 誰了解萊威光電子？

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  • x射線熒光光譜分析儀的優(yōu)缺點(diǎn)有哪些

    優(yōu)點(diǎn)：原裝進(jìn)口電制冷探測(cè)器，可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素，精度高、測(cè)量時(shí)間短，它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領(lǐng)域特點(diǎn)：1. 同時(shí)分析元素周期表中由鈉（Na...

X射線光電子能譜分析文獻(xiàn)

鍍鋅三價(jià)鉻鈍化膜的X射線光電子能譜研究 鍍鋅三價(jià)鉻鈍化膜的X射線光電子能譜研究

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頁數(shù)： 3頁

評(píng)分： 4.8

采用中性鹽霧試驗(yàn)比較了酸性氯化鉀鍍鋅層經(jīng)3種不同鈍化劑鈍化處理后所得鈍化膜的耐蝕性,采用X射線光電子能譜研究了不同鈍化膜的厚度及組成。結(jié)果表明,SpectraMATETM 25彩色鈍化所得鈍化膜的耐蝕性最好,可以經(jīng)受336 h以上的中性鹽霧試驗(yàn),TRI-V121鈍化膜的耐蝕性次之,TRI-V120鈍化膜最差。TRI-V120和TRI-V121藍(lán)白鈍化所得鈍化膜的主要組成為Cr2O3,厚度均為200 nm左右,但后者的Cr含量較高,因此具有較高的耐蝕性;經(jīng)SpectraMATETM 25彩色鈍化所得鈍化膜的組成為Cr(OH)3和Cr2O3,厚度約為800 nm,膜層厚是其具有高耐蝕性的主要原因。

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竹木質(zhì)素的紅外光譜與X射線光電子能譜分析 竹木質(zhì)素的紅外光譜與X射線光電子能譜分析

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頁數(shù)： 6頁

評(píng)分： 4.3

應(yīng)用傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜(FTIR)和X射線光電子能譜(XPS),研究了3種提純方法得到的竹木質(zhì)素及其化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物的化學(xué)結(jié)構(gòu)特性.確定竹木質(zhì)素C1s的電子結(jié)合能分別為283.52(C—H或C—C),284.58～285.72(C—OR或C—OH),286.10～286.44(C=O或HO—C—OR),287.65～287.72(O—C=O)eV.O1s的電子結(jié)合能分別為530.31(羥基氧原子),531.45～531.72(醛或酮的羰基氧原子),532.73～533.74(酯鍵或羧酸中的羰基氧原子)eV.竹木質(zhì)素中的結(jié)構(gòu)單元之間主要是通過醚鍵和碳碳單鍵連接,慈竹磨木木質(zhì)素結(jié)構(gòu)單元中醚鍵、碳碳單鍵、酯鍵、羰基和烯雙鍵的比例為100∶63∶32∶40∶32(49.3∶31.0∶16.0∶19.9∶16.0).

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x射線光電子能譜概述

對(duì)固體樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析。 固體樣品表面的組成、化學(xué)狀態(tài)分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)構(gòu)鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定。此外在對(duì)氧化、腐蝕、摩擦、潤(rùn)滑、燃燒、粘接、催化、包覆等微觀機(jī)理研究；污染化學(xué)、塵埃粒子研究等的環(huán)保測(cè)定；分子生物化學(xué)以及三維剖析如界面及過渡層的研究等方面有所應(yīng)用。

XPS與某些分析方法的比較 ：

方法名稱

信息來源

分析方式

樣品狀態(tài)

樣品用量(g)

分辨率

靈敏度

真空(Pa)

XPS

表面<8nm

非破壞

固、氣、液

10-6~10-8

較低

10-18

1.33×10-4~1.33×10-9

吸收光譜

本體

非破壞

固、氣、液

10-2~10-3

10-9

發(fā)射光譜

本體

破壞

固

10-12

質(zhì)譜

本體

破壞

固、氣、液

10-3~10-4

高

10-13

1.33×10-2~1.33×10-5

NMR

本體

非破壞

液（固 ）（氣）

5×10-3

高

穆斯堡爾譜

表面

非破壞

固（Fe，Sn，稀土）

10-3

電子探針

表面

非破壞

固

10-16

1.33×10-1~1.33×10-3

離子探針

表面

破壞

固

10-11

X射線熒光

表面

非破壞

固

10-17

x射線光電子能譜常規(guī)應(yīng)用

1.樣品表面1-12nm的元素和元素質(zhì)量

2.檢測(cè)存在于樣品表面的雜質(zhì)

3.含過量表面雜質(zhì)的自由材料的實(shí)驗(yàn)式

4.樣品中一種或多種元素的化學(xué)狀態(tài)

5.一個(gè)或多個(gè)電子態(tài)的鍵能

6.不同材料表面12 nm范圍內(nèi)一層或多層的厚度

7.電子態(tài)密度測(cè)量

x射線光電子能譜應(yīng)用限制

量化精確度：

分析時(shí)段

探測(cè)限制

分析區(qū)域限制

樣品大小限制

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XPS：固體樣品的表面組成分析，化學(xué)狀態(tài)分析，取樣訊息深度為～10nm以內(nèi). 功能包括:

1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊。

2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學(xué)態(tài)的深度分析（角分辨方式,,氬離子或團(tuán)簇離子刻蝕方式）

3. 線掃描或面掃描以得到線或面上的元素或化學(xué)態(tài)分布。

4. 成像功能。

5. 可進(jìn)行樣品的原位處理 AES：1.可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析（包括點(diǎn)分析，線分析和面分析） 2.可進(jìn)行深度分析適合： 納米薄膜材料，微電子材料，催化劑，摩擦化學(xué)，高分子材料的表面和界面研究

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Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。

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