中文名 | X射線熒光顯微分析儀 | 產(chǎn)????地 | 日本 |
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學(xué)科領(lǐng)域 | 材料科學(xué) | 啟用日期 | 2005年6月8日 |
所屬類別 | 分析儀器 > X射線儀器 > X射線熒光光譜儀 |
材料分析,微區(qū)成分分析,光學(xué)圖像觀察,內(nèi)部異物分析,圖像處理。 2100433B
分析元素Na-U,能量分辨率FWHM<150eV,最大可分析樣品400mm×350mm×150mm,X射線束徑10um、100um。
儀器是較新型X射線熒光光譜儀,具有重現(xiàn)性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻...
優(yōu)點:原裝進口電制冷探測器,可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素,精度高、測量時間短,它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領(lǐng)域特點:1. 同時分析元素周期表中由鈉(Na...
X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由...
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X 射線熒光分析儀在水泥生產(chǎn)中的應(yīng)用 祝建清 ,吳松良 (浙江紅火集團 江山虎球水泥有限公司 ,浙江 江山 324109) 中圖分類號:TQ172.16 文獻標(biāo)識碼:B 文章編號:1002-9877(2009)04-0050-04 我公司 于 2008 年 5 月份 引進一臺 Venus200 X 射線熒光 分析儀,經(jīng)過 5 個多月的使用和維護 ,建立 了生料、熟料、廢鋁土 、石 煤渣、石灰石和銅礦渣 6 條 工 作曲 線 ,能較 穩(wěn) 定分析各種物料中的 SiO2、Al 2O3、 Fe2O3、CaO、MgO、K2O 和 Na2O 的含量,為生料配料和 2 樣片的制備 在水泥行業(yè)的應(yīng)用中 ,熔片法雖然能消除顆粒效 應(yīng)及礦物效應(yīng) ,準(zhǔn)確性較好 ,但因操作費時 、成本較高 而尚未被廣泛采用 ;壓片法則操作簡單 、快速 ,是目前 國內(nèi)水泥廠主要采用的 XRF 制樣方法 。我公司采用 壓片法 。 2
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我公司使用的帕納科公司AXIOS 2.4kW掃描型順序式X射線熒光分析儀,采用硼酸襯底粉末壓片法制樣。使用不到4個月,因進樣位置底部密封圈受污染引起測量室真空報警,只能停機維護。1原因分析1)與先前使用的飛利浦公司的PW1660固定道同時式X射線熒光分析儀相比,兩臺儀器X光管照射試樣的方式不同,前者為上照射式,后者為下照射式,因而樣品傳送系統(tǒng)不同(見圖1),在樣片傳送過
X射線熒光分析儀器分類
根據(jù)分光方式的不同,X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類,也 就是通常所說的能譜儀和波譜儀,縮寫為EDXRF和WDXRF。
通過測定熒光X射線的能量實現(xiàn)對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析,相應(yīng)的儀器稱之為能譜儀,通過測定熒光X射線的波長實現(xiàn)對被測樣品分析的方式稱之為波長色散X射線熒光分析,相應(yīng)的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。
根據(jù)激發(fā)方式的不同,X射線熒光分析儀可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種:用放射性同位素源發(fā)出的X射線作為原級X射線的X熒光分析儀稱為源激發(fā)儀器;用X射線發(fā)生器(又稱X光管)產(chǎn)生原級X射線的X熒光分析儀稱為管激發(fā)儀器。
就能量色散型儀器而言,根據(jù)選用探測器的不同,X射線熒光分析儀可分為半導(dǎo)體探測器和正比計數(shù)管兩種主要類型。
根據(jù)分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個別元素分析儀器。這種稱 呼多用于能量色散型儀器。
在波長色散型儀器中,根據(jù)可同時分析元素的多少可分為,單道掃描X熒光光譜儀、小型多道X熒光光譜儀和大型X熒光光譜儀。
1、在測定微量成分時,由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調(diào)整出最具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾,
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準(zhǔn)確的分析。
3、當(dāng)某些元素的電子由高等級向低等級躍遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由
此產(chǎn)生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器,因此當(dāng)X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素
的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰,此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩(wěn)的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發(fā)待分析樣品中的原子,使原子發(fā)出標(biāo)識X射線(熒光),通過測量這些標(biāo)識X射線的能量和強度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同,可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析,電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。