便攜式礦石品位快速檢測儀礦石品位快速檢測儀

便攜式礦石品位快速檢測儀簡介

便攜式礦石元素分析儀可以很準確的分析出礦石中的元素的種類以及各種元素的含量，分析的范圍以化學元素周期表為參照，從硅（SI）到鈾（U）之間的所有元素。便攜式礦石元素分析儀操作簡單，測試方便，不受地理條件的限制，能夠?qū)崿F(xiàn)現(xiàn)場檢測，現(xiàn)場既能得出所需數(shù)據(jù)。廣泛應用于地質(zhì)勘測，野外探礦，礦石采選等等。

便攜式礦石品位快速檢測儀原理

礦石元素分析儀是一種x射線熒光光譜儀器，即XRF。在試驗中當我們用X射線照射試樣時，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。兩種類型的X射線熒光光譜儀都需要用X射線管作為激發(fā)光源。便攜式礦石品位快速檢測儀是一種能量色散的光譜儀。

能量色散譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將其分開并檢測，不必使用分光晶體，而是依靠半導體探測器來完成。這種半導體探測器有鋰漂移硅探測器，鋰漂移鍺探測器，高能鍺探測器等。X光子射到探測器后形成一定數(shù)量的電子-空穴對，電子-空穴對在電場作用下形成電脈沖，脈沖幅度與X光子的能量成正比。在一段時間內(nèi)，來自試樣的熒光X射線依次被半導體探測器檢測，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器（通常要1000道以上）。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計脈沖數(shù)，脈沖幅度可以用X光子的能量標度，從而得到計數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。其形狀與波譜類似，只是橫坐標是光子的能量。

能量色散的最大優(yōu)點是可以同時測定樣品中幾乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能譜儀對X射線的總檢測效率比波譜高，因此可以使用小功率X光管激發(fā)熒光X射線。另外，能譜儀沒有光譜儀那么復雜的機械機構(gòu)，因而工作穩(wěn)定，儀器體積也小。

便攜式礦石品位快速檢測儀分析元素范圍

Si硅 P磷 S硫 Cl氯 Ar氬 K鉀 Ca鈣 Sc鈧 Ti鈦 V釩 Cr鉻 Mn錳 Fe鐵 Co鈷 Ni鎳 Cu銅 Zn鋅 Ga鎵 Ge鍺 As砷 Se硒 Br溴 Kr氪 Rb銣 Sr鍶 Y釔 Zr鋯 Nb鈮 Mo鉬 Tc锝 Ru釕 Rh銠 Pd鈀 Ag銀 Cd鎘 In銦 Sn錫 Sb銻 Te碲 I碘 Xe氙 Cs銫 Ba鋇 57～71 La～Lu鑭系 La鑭 Ce鈰 Pr鐠 Nd釹 Sm釤 Eu銪 Gd釓 Tb鋱 Dy鏑 Ho鈥 Er鉺 Tm銩 Yb鐿 Lu镥 Hf鉿 Ta鉭 W鎢 Re錸 Os鋨 Ir銥 Pt鉑 Au金 Hg汞 Tl鉈 Pb鉛 Bi鉍 Po釙 At砹 Rn氡 Fr鈁 Ra鐳 Ac錒 Th釷 Pa鏷 U鈾

◆ 對高品位、精選礦石精確的品位評定，提供礦石采集、收購價值依據(jù)

◆ 礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價值

◆ 在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進行品檢，確定品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液進行分析

◆ 快速普查超大范圍的礦區(qū)，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實時勘察

◆ 現(xiàn)場快速追蹤礦化異常，有效地尋找“熱點”地帶，圈定礦體邊界

◆ 對銑頭、精礦和礦渣快速、精確的分析，以建立高效開采和富集的過程

◆ 通過對輸送料、精礦、礦渣進行現(xiàn)場分析以確定/跟蹤提煉或者濃縮過程的有效性。礦場描繪以及品位控制

◆ 通過實時就地分析多個樣本，實現(xiàn)對開采計劃進行指導，有效地管理挖掘、爆破工作

◆ 在現(xiàn)場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分，以有效控制勘探成本2100433B

入選品位指進入選冶工藝的礦石中某有用組分的平均品位，要高于最低工業(yè)品位。入選品位通常是變化的，它隨著礦段和礦體的不同而變化。

礦石一般分為貧礦石、普通礦石和富礦石，有時僅分為貧礦石和富礦石。礦石的概念是相對的，隨著人類對新礦物原料要求的不斷增長和工藝技術條件的不斷改進，以前無用的礦物也可成為礦石礦物。

確定礦與非礦的主要標準是對礦石品位的要求。礦石中有用成分(元素或礦物)重量和礦石重量之比稱為礦石品位，金、鉑等貴金屬礦石用克/噸表示，其他礦石常用百分數(shù)表示。有些金屬礦石品位是以其中的氧化物(如三氧化鎢、五氧化二釩、二氧化鈦等)的重量百分比表示。如某鐵礦石鐵的品位為45%，意思就是這種鐵礦石中含鐵45%。