光面塞規(guī)簡介

塞規(guī)的用途

光面塞規(guī)是用來測量工件內孔尺寸的精密量具。光面塞規(guī)可做成最大極限尺寸和最小極限尺寸兩種。它的最小極限尺寸一端叫做通端，最大極限尺寸一端叫做止端，常用的塞規(guī)形式，塞規(guī)的兩頭各有一個圓柱體，長圓柱體一端為通端，短圓柱體一端為止端。檢查工件時，合格的工件應當能通過通端而不能通過止端。

同“光滑塞規(guī)”。

浮標式氣動測量儀、電子式氣動量儀(中文屏顯）、環(huán)規(guī)，塞規(guī)、氣內測校、氣外測校、缸套測量裝置、連桿測量裝置、活塞測量裝置、厚度測量裝置、錐度測量裝置、平行度測量裝置、等光學測量儀器

JD25-C數據處理萬能測長儀、JD18投影萬能測長儀、氣動量儀。

氣動量儀儀器儀表氣動放大器、環(huán)規(guī)塞規(guī)。

激光測距儀

連桿孔距測量裝置、環(huán)規(guī)、氣動量儀。

通止規(guī)

光面塞規(guī)是一種用來測量工件內尺寸的精密量具,塞規(guī)可做成最大極限尺寸和最小極限尺寸兩種,最小極限尺寸一端叫做通端,最大極限尺寸一端叫做止端2100433B

1.標準器：采用高精度光柵系統(tǒng)作為反饋 X 軸向距離的標準器；

2.測量原理：利用頭座的測力并使用測帽球面（針對平面物體測量-如量塊，校對桿，千分尺，卡規(guī)等）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向浮動，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；從而測得兩測帽球面頂點間的距離；

利用頭座的測力并使用平面測帽的平面（針對圓周外徑測量，如光面塞規(guī)，針規(guī)及棒材）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向浮動，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；從而 測得兩測帽平面間的距離；

利用頭座測力并使用平面測帽接觸三針使三針與螺紋塞規(guī)螺紋槽中徑截面點接觸，得到平面測帽間的距離，并加上三針針徑，使用三針法計算得到螺紋單一中徑；

利用 T 型測球與螺紋環(huán)規(guī)內螺紋槽中徑截面點分別接觸，得到一組螺紋中截面中徑數據，并通過三針法計算得到螺紋單一中徑；

3. 數據修正：通過測力修正系統(tǒng)及溫度修正系統(tǒng)將 X 軸向光柵反饋的數據進行修正得到正確的 X 軸標準長度數值；

4. 軟件標準及數據計算：軟件系統(tǒng)內置多個標準，并通過對應標準的數據計算得到檢定所需數據（如螺紋的單一中徑，量塊的標準長度，光面規(guī)的真值等。