X熒光光譜儀主要用途

X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。

近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛。

大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常數(shù)。

而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：

E=hν=h C/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

X熒光光譜儀優(yōu)點

a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。

c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。含量測定已經(jīng)達(dá)到ppm級別。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀缺點

a） 定量分析需要標(biāo)樣。

b）對輕元素的靈敏度要低一些。

c）容易受元素相互干擾和疊加峰影響。

X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。

以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。

Chemplex樣品薄膜、麥拉膜、邁拉膜、XRF樣品膜、XRF測試薄膜、EDX樣品薄膜、EDX薄膜、樣品薄膜、ROHS測試膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品薄膜、常用型號有：CAT.NO：106麥拉膜、CAT.NO：250麥拉膜、CAT.NO：256麥拉膜、CAT.NO：257麥拉膜、CAT.NO：416麥拉膜、CAT.NO：426麥拉膜、3014麥拉膜、到正規(guī)公司買都是可以貨到付款!

測試液體與粉沫時、加厚型麥拉膜6.0μ;0.00610mm，如果測試液體時使用2.5μ;0.00254mm液體會滲漏到咱們的分析儀器上，注意一但液體滲漏到分析儀器里面是不保修的（剛買的新機同樣也不保這屬于人為）。